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纳米粒度及Zeta电位分析仪

型号
参数
产地类别:国产 价格区间:面议 应用领域:综合
澳谱特科技(上海)有限公司

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纳米粒度分析仪

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纳米粒度分析仪

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纳米粒度、Zeta电位分析仪、图像粒度粒形分析仪

 澳谱特科技(上海)有限公司目前拥有纳米粒度及Zeta电位分析仪和图像粒度粒形分析仪等两个系列多个型号产品,应用于纳米材料、生物医药、精细化工、油漆涂料、食品药品、航空航天、国防科技等领域,使用我们的仪器可以测量颗粒粒度、颗粒粒形、Zeta电位等信息,用于指导工业生产。我们持续不断进行研究和开发,持续不断对产品进行改进,提供颗粒粒度粒形分析与应用综合解决方案,以满足广大客户日益增长的应用需求。

 

 

 

 

 

详细信息

  纳米粒度及Zeta电位分析仪用于测量颗粒粒度与Zeta电位。纳米颗粒由于粒径十分细小,其表面的晶体结构发生变化,从而在电学、光学和化学活性等方面表现出的性能。粒径大小是表征纳米材料性能的重要参数,准确了解颗粒粒度是控制纳米材料性能的关键。Zeta电位是表征胶体分散系稳定性的关键参数,Zeta电位越高,胶体系统就越稳定,反之,Zeta电位越低,胶体系统稳定性就越差,因此通过测量和调整体系的Zeta电位,就可以控制胶体的稳定性。因此,广泛应用于产品开发、生产、质量控制以及科学研究,以便深入了解产品特性。

 技术类型

1.png

Zetatronix 939系列 查看详情

采用多角度动态光散射技术,提供更高分辨率的粒度测量结果

2.png

Zetatronix 929系列 查看详情
采用背向动态光散射技术,可以测量高浓度样品的粒度

3.png

Zetatronix 919系列 查看详情
采用经典动态光散射技术测量粒度
经典动态光散射(DLS)
背向动态光散射(BSDLS)
多角度动态光散射(MADLS)

测量角度11°、90°、175°11°、175°11°、90°
测量类型


粒度
Zeta电位
分子量
温度/时间趋势


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产品参数

产地类别 国产
价格区间 面议
应用领域 综合
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