薄膜、SEM氮化硅膜窗格

【基本信息】

中文名称：SEM氮化硅膜窗格

纯度：99.9%

材料：LPCVD 氮化硅薄膜

介电常数：6-7

介电强度：10（106 V/cm ）

电阻率：1016Ω-cm

粗糙度(Ra)：0.28±5%nm

折射率：2.15-2.17

粗糙度(Rms)：0.40±5%nm

存储：-20℃冷藏、密封、避光

保存时间：1年

用途：仅用于科研，不能用于人体

薄膜、SEM氮化硅膜窗格

【详情描述】

SEM氮化硅膜窗格指的是一种通过扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscopy，SEM）观察的氮化硅薄膜，该薄膜具有窗格结构。SEM广泛用于观察表面形貌和纳米尺度结构。

SEM（扫描电子显微镜）：

定义： SEM是一种通过扫描样品表面的电子束来产生图像的显微镜。它提供高分辨率的表面形貌图像，适用于纳米尺度和微米尺度的观察。

氮化硅膜窗格：

定义： 氮化硅膜窗格指的是在氮化硅薄膜上形成的具有窗格结构的区域。这些窗格可能具有不同的形状、大小或分布。

这种窗格结构可能在纳米技术、光学、光电子学等领域中发挥作用，具体应用可能涉及到传感器、光学器件或其他纳米材料的制备。

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以上资料来自西安昊然生物小编JMY 2024.1.31.         

以上文中提到的产品仅用于科研，不能用于人体及其他用途。