FETS-2000b 薄膜铁电性能综合测试仪
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武汉研禾科技有限公司成立于2017年，是一家从事功能材料电性测试设备研发的高科技公司，经过多年产品研发和技术积累，已经拥有涵盖铁电、电卡效应、电容充放电、热释电、压电、介电等领域的测试设备，可以满足功能材料电学性能测试的全套需求。
核心技术团队由多位资深高级工程师、功能材料学博士组成，成员多来自华中科技大学，在材料表征、设备研制、软件开发等方面具有深厚的理论功底和丰富的实践经验。
我司坚持自主研发，紧跟功能材料测试需求，研发出的铁电测试系统、电卡效应测试仪、电容充放电测试仪、热释电系数测试系统、高低温介电温谱测试系统等设备，性能指标和稳定性可媲美进口产品，且价格更优惠、售后更便捷。
我司同时提供为实验室量身定制功能材料电学性能综合测试系统的服务以及样品测试的服务，愿为客户提供技术先进、质量可靠、性价比高的优质国产仪器设备。
详细信息
FETS-2000b薄膜铁电性能综合测试仪具有动态电滞回线(DHM)、I-V特性、脉冲(PUND)、静态电滞回线(SHM)、疲劳(FM)、漏电流(LM)、电流-偏压、保持力(RM)、印迹(IM)的测试功能.，可广泛地应用于如各种铁电/压电/热释电薄膜、厚膜、体材料和电子陶瓷、铁电传感器/执行器/存储器等领域的研究。
FETS-2000b薄膜铁电性能综合测试仪与探针台配套使用，可实现薄膜的铁电性能测试。动态电滞回线测试频率和激励测试电源，用户可根据需要进行选择，动态电滞回线测试频率范围为1mHz～500kHz可选，激励测试电源±10/30/100/200/500VAC可选，也可根据用户需要进行定制。
本测试系统由主控器、探针台、计算机及系统软件部分组成。主控器集成了内置激励测试电源、电荷积分器、可编程放大器、模数转换器、通讯总线等功能，系统软件包括可视化数据采集和管理功能，测试时，无需改变测试样品的连接，即可实现滞回，脉冲，漏电，IV等性能测试。
本测试系统铁电性能测试采用改进的Sawyer- Tower测量方法，与传统的Sawyer- Tower模式相比，此电路取消了外接电容，可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于积分器积分电容的精度，减少了对测试的影响环节，容易定标和校准，并且能实现较高的测量准确度。
本系统提供外接高压放大器的接口，对于需要做高压测试、高压漏电流测试 的用户，可直接扩展此功能。
用户选择此款设备，需向厂家提供测试频率、激励测试电压等要求。
测试功能：
动态电滞回线(DHM)
I-V特性
脉冲(PUND)
静态电滞回线(SHM)
疲劳(FM)
漏电流(LM)
电流-偏压
保持力(RM)
印迹(IM)
可扩展部件：
探针台
