YP-XM 小麦表型测量仪
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生产厂家优云谱小麦表型测量仪
小麦育种研究中,小麦表型参数至关重要,小麦表型检测仪可用于小麦株高、夹角、基粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标的测量,可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。这些表型参数在小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。软件集合多方面功能为一体,一站式解决小麦的表型参数测量问题。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的小麦研究。
优云谱小麦表型测量仪应用广泛:
1、小麦亩穗数检测合适时期: 小麦抽穗期、开花期、灌浆期、成熟前期的小麦。
2、麦穗形态测量的时期:室内考种时期:
3、小麦夹角测量时期:抽穗期、开花期、灌浆期、乳熟期。
4、千粒重测量时期: 室内考种时期。
5、小麦株高测量时期: 各个生育时期。
三、技术参数:
测量范围和误差:
1、小麦亩穗数测量误差: ≤±5%。
2、麦穗形态测量范围: 5~20cm。
穗长误差: ±2%。
小穗数误差: ≤ 3个。
3、小麦夹角测量范围: 0-180°。
作物粗: 0-5.2cm。
夹角测量误差: +5%。
4、作物茎粗测量误差: ±1%。
5、千粒重测量误差: ±2%。
6、株高测量范围: 0.1-1.1m。
测量误差: ±1%。