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F50薄膜厚度测量仪
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北京伊微视科技有限公司是一家专注于提供显微、膜厚测量以及光电测试设备的企业。
我们致力于为客户提供全面的显微设备，涵盖从毫米到纳米级别的多个领域。我们的产品线包括样品制备设备、体式显微镜、数码显微镜、金相显微镜、平面度测试仪、3D表面轮廓仪、扫描电子显微镜、原子力显微镜以及透明晶圆缺陷扫描仪。
此外，我们还提供专业的薄膜测量设备，包括透明/半透明薄膜的反射光谱测量仪、用于纳米级别测量的椭偏仪，以及针对不透光金属镀膜的X荧光光谱测量仪。
在光电测量设备领域，我们正在不断拓展我们的产品线，已代理的产品包括Sinton的少子寿命测试和Fluxim测量软件。
尺有所短寸有所长，每一个品牌，每一台设备亦如此。在客户的需求上，提供解决方案，是我们服务的宗旨。我们不仅仅是设备的销售商，更是为客户提供解决方案的合作伙伴。
详细信息
依靠F50的光谱测量系统，可以很简单快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。
产品名称： F50薄膜厚度测量仪
品牌： Filmetrics
产品型号： F50
产地： 美国
自动化薄膜厚度绘图系统
依靠F50薄膜厚度测量仪的光谱测量系统，可以很简单快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。
系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式，也可以编 辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。
可测样品膜层
基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括：
量测原理
当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射，由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉，从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率,我们可以判断我们可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度（愈多的震荡代表较大的厚度）。而其他的材料特性如折射率与粗糙度也能同时测量。
FILMeasure软件提供两种分析模式：
Sepectru-Matching与FFT。在Spectrum-Matching模式中，您可以分析厚度与折射率。反正，FTT模式虽然只能测量厚度，但在较厚的薄膜厚度测量，FFT的分析能力更为健全。
FILMapper软件-自动测量
测绘图案绘制
用户能随心所欲的绘制所需的图案，操作功能方便省时
测绘图案参数：
•圆形/方形
•放射状
•中心或边缘排除
•点位密度
2D和3D的测绘
不论是反射率，厚度还是折射率的测量，都可以用2D或3D呈现。测绘结果能依不同的需要做调整，参数设定简单容易。测绘图能从不同的角度检视。
