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功率器件分析仪B1506A
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生产厂家南京芯测软件技术有限公司,专业打造半导体晶圆级测试及芯片检测等系统集成平台。公司致力为客户提供半导体测试设备国产化改造,以及系统集成的一站式平台服务。公司的目标是成为国内晶圆级在片测试,器件测量系统软件、硬件的先进供应商,以满足国内用户需求,开发半导体测试设备和系统集成软件定制化服务。
南京芯测的在专注于在片测试系统设备经销与晶圆在片测试软件的研发。涉及的设备包括:手动探针台、半自动探针台、全自动探针台、硅光探针台、射频探针台、高低温探针台、除此之外涉及经销芯片ESD测试系统、封装及工艺检测设备等。我们服务的领域涵盖半导体晶圆级在片测试、射频微波器件测量,大功率器件测试、微组装封装工艺检测、失效分析、材料测试等应用行业
对新能源汽车而言,汽车不再使用汽油发动机、油箱或变速器,“三电系统”即电池、电机、电控系统取而代之,新增DC-DC模块、电机控制系统、电池管理系统、高压电路等部件。而功率半导体 功率器件分析仪B1506A是电子装置中电能转换与电路控制的核心,在电子电路中起到功率转换、功率放大、功率开关、线路保护和整流等作用。
挑战
功率半导体兼有高输入阻抗和低导通压降两方面的优点;同时其芯片属于车规级电力电子芯片,需要工作在大电流、高电压、高频率的环境下,对芯片的可靠性要求较高。这给其测试带来了一定的困难:
具体体现在以下几个方面:
●功率半导体是多端口器件,需要多种仪表协同测试;
●功率半导体的漏电流越小越好,需要高精度的设备进行测试;
●功率半导体的电流输出能力很强,测试时需要快速注入1000A电流,并完成压降的釆样;
●车规级功率半导体需要耐压较高,一般从几千到一万伏不等,需要测量仪器具备高压输出和高压下NA漏电流测试的能力;
●由于车规级功率半导体工作在强电流下,自加热效应明显,严重时容易造成器件烧毁,需要提供μs级电流脉冲信号减少器件自加热效应;
●输入输出电容对器件的开关性能影响很大,不同电压下器件等效结电容不同,C-V测试十分有必要。
是德科技的应对
对应静态测试,是德科技采用了业内认可的传统测试方法将I-V,C-V结合在一起,并实现其自动化测试。
●高电流测试时的连线方法——四线法连线(Remote Sense)
2线法测试适用于阻值比较大,电流比较小的测试;而当被测电阻非常小,测试电流较大时,应用4线法连线方式去测试。在高增益器件测试中,Gate端微弱的电压变化也会导致导通电流剧烈变化。推荐Gate端也要做4线连接,以便获得正确稳定的控制电压。
●自热效应——脉冲测试(Pulse Measurement)
IGBT等大功率器件由于其功率特点极易产生大量热量,传统直流测试会使温度迅速上升,严重时会使器件损坏,且不符合器件工作特性,需要脉冲测试。快速的脉冲测试(微秒至毫秒级别),减少功率器件在电压/电流偏置下的stress时间。
●高压电容测试——BiasT,Protection Module,CV测试
当电容测试遇到更高的直流电压要求时,可以通过biasT来把这个高压的直流信号引入CV测试。
敲黑板划重点:
功率器件分析仪B1506A功率半导体在研发、生产和失效分析等领域的测试。
B1506A功率器件分析仪提供了完整的电路设计解决方案,帮助企业,高校以及研发单位功率半导体产品研发,实现对功率半导体的高效,安全的测试验证。为研发,生产,失效分析等多个场景提供测试服务。
●可用于3000V/1500A高功率测试;
●自动化程度高,生成测试报告供用户进行数据分析和处理;
●强大的测试能力,涵盖C/V,I/V,Qg,CV,Rg,Ron,Ciss等参数。
数据表特征化模式提供所有IV参数(Vth、Vsat、Ron、击穿、泄漏、输出/传输曲线等)的快速准确测量;测量所有三个终端设备电容(Ciss、Coss、Crss、CIS、Coes、CRS、Rg),无需更改任何电缆连接。
•门电荷(Qg)测量和功率损耗计算;
•宽电压和电流输出范围(3 kV/1500 A);
•热测试能力(-50°C至+250°C)。