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可选 美国BH(原美国GE)贝克休斯水浸探头
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代理商深圳市泰立仪器仪表有限公司成立于2005年,无损检测仪器配套方案提供商,专业从事:磁导率测量、电导率测量、涡流漏磁、超声、射线、金相、光谱、材料检测...测试仪器仪表设备的代理、销售和服务工作。并与国外杰出仪表生产厂商有着广泛的技术与销售合作的良好基础。德国FOERSTER霍释特、德国NewSonic、德国Optisense、以色列 ScanMaster、美国Dakota达高特、英国SONATEST声纳、英国ETHER NDE易德、美国GE通用、等公司的中国区销售代理。产品广泛应用于工业、电子、半导体、太阳能、医药、能源等各个领域,并服务于各大企业、院校、研究所、检测机构及政府部门等。
美国BH(原美国GE)贝克休斯水浸探头
用于浸入式方法的传感器
水浸探头的设计目的是与水楔配合使用,或者在被检工件部分或全部浸入水中时,在水浸箱中进行检测。这类探头属纵波探头,但经过设置后,使用Rexolite楔块可以进行折射横波检测。
优势特性
其声阻抗与水匹配
可装配到水楔上,以更方便地耦合到多种表面,且其水中声程可调(当被检工件不能浸没到水箱中时)。
线性扫查可以覆盖30毫米到90毫米的距离,且检测的准确性非常高。
耐腐蚀不锈钢外壳
可保证在水下1米深的位置具有防水性
典型应用
对(钢、铝或其他材料制成的)薄板或管子进行检测
对复合材料进行检测,探测出分层和脱粘等缺陷
在线厚度测量
自动扫查
水浸探头浸入式传感器
•通过水耦合达到最佳耦合效果
•用于结构较规则工件
•常用于自动检测系统
•耦合效果稳定一致,检测结果可重复性好
•可用于扫查架,喷水式检测
•可以通过聚焦提高灵敏度和分辨力
聚焦水浸探头入式传感器
•点聚焦模式
•线聚焦模式
聚焦优势
提高对小缺陷的敏感检测灵敏度
美国BH(原美国GE)贝克休斯水浸探头
传感器探头选择标准 -北美标准
根据美国标准制造的探头,Baker Hughes Inspection Technologies 提供三种系列探头: Alpha、Benchmark, 和 Gamma 系列。 所有探头均根据 ASTM E-1065标准进行测试,测试报告提供波形和频谱等相关信息。
•建议用于对检测分辨率有较高要求的检测应用。
•适用于对分辨力要求高的厚度测量和近表面缺陷检测等应用。
•脉冲非常短,达到目前探头技术极限。
•灵敏度通常低于 Gamma 和 Benchmark 系列探头。
•带宽 - 典型的 6 dB 带宽范围为 50% 至 100%。
•典型的 Alpha 波形(右图)通常只有一到两个完整的回波周期
Benchmark 系列探头功能
•晶片使用特殊BENCHMARK COMPOSITE 压电复合材料。
•对高衰减材料的穿透性远优于传统探头。
•对粗晶粒金属材料、碳纤维增强复合材料检测具有高信噪比。
•回波脉冲短 - 分辨率通常优于 Gamma 系列。
•灵敏度通常高于 Gamma 和 Alpha 系列探头。
•高带宽 - 典型的 6 dB 带宽范围为 60% 至 120%。
•晶片低声阻抗提高了斜探头、延迟探头和水浸探头的性能,与塑料和水的声阻抗匹配效果好。
Gamma 系列功能
•常用探头,适用于大多数日常检测应用要求。
•中脉冲、中阻尼 – 灵敏度和分辨率的优化组合。
•电子匹配性能确保较高的检测灵敏度,牲牺一定分辨力
•中带宽 - 典型的 6 dB 带宽范围为 30% 至 50%。
•典型的 Gamma 波形会显示三到四个完整回波周期,取决于探头频率、探头直径和其他参数。
接触式直探头
应用
•结构规则简单的大型工件检测
•锻件、坯料检测
•板材、棒材、方型材
•容器、机器零部、外壳
•在高温下用延迟块检测
功能特和优势
欧式型号具有可更换的软保护膜
– 改善在不平坦或弯曲表面上的耦合
– 延长探头使用寿命。
– 适用于 DGS 缺陷定量方法
– 提供高温延迟块
– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 连接器,标准探头连接器安装在侧面,顶部接口可选
美式型号具有可更换的软保护膜
– 保护膜可改善不平坦或弯曲表面上的耦合。
– 定期更换软保护膜可无限期延长探头的使用寿命。
– 高温延迟块可在最高 400°F (200°C) 的表面上进行检测。
– BNC 连接器,侧面或顶部安装
用于接触式检测方法的探头传感器
直探头-单晶
•工件形状规则,检测面相对光滑
•适用于平面或带曲率接触面
•缺陷或底面与接触面平行
•用于检测厚度较大的工件
•延迟块探头能提高近表面分辨力
•需要耦合剂
•日常检测常用探头
直探头直通波束 - 双晶片 (TR)
•通过隔声层使发射与接收晶片独立分开
•缺陷或底面与接触面平行
•用于检测厚度较小工件
•需要耦合剂
•日常检测常用探头
坡度波束斜探头
•斜探头晶片与楔块一体或可拆卸
•横波或纵波以特定角度入射
•常用的斜探头为横波探头
•检测与入射声束垂直的缺陷
•有单晶与双晶斜探头
•需要耦合剂
•有时用于扫查器或自动扫查