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CL Go+ DL 美国贝克休斯（原GE）超声波测厚仪CL5升级
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- CL Go+ DL
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深圳市泰立仪器仪表有限公司成立于2005年，无损检测仪器配套方案提供商，专业从事：磁导率测量、电导率测量、涡流漏磁、超声、射线、金相、光谱、材料检测...测试仪器仪表设备的代理、销售和服务工作。并与国外杰出仪表生产厂商有着广泛的技术与销售合作的良好基础。德国FOERSTER霍释特、德国NewSonic、德国Optisense、以色列 ScanMaster、美国Dakota达高特、英国SONATEST声纳、英国ETHER NDE易德、美国GE通用、等公司的中国区销售代理。产品广泛应用于工业、电子、半导体、太阳能、医药、能源等各个领域，并服务于各大企业、院校、研究所、检测机构及政府部门等。
详细信息
美国贝克休斯（原GE）超声波测厚仪CL5升级CL Go+
该设备采用先进的数字信号处理技术和自动增益控制，以在各种条件下提供稳定的读数。高分辨率的A扫描和闸门控制功能能够优化测量结果，确保准确性。主要特点包括：
• 采用有限脉冲响应上采样和插值零交叉测量技术，提高测量稳定性和可靠性。
• 自动增益控制，提高重复性。
• 多种校准和零点校准模式，确保一致的准确性。
• 多种测量模式，包括厚度、差值、质量和声速。A扫描、B扫描、最小/最大值、
CL Go+声速选项可用于确定已知厚度材料的声速。用户可以输入材料厚度，将探头放置在零件上，CL Go+将显示材料的声速。每个值都可以存储在数据记录器中，并可以下载到个人电脑上。
美国贝克休斯（原GE）超声波测厚仪CL5升级CL Go+
型号和软件选项：
179M5147 CL Go+ 标准超声波精密厚度测量仪，具备实时A-Scan功能
179M5148 CL Go+ DL 高级超声波精密厚度测量仪，具备实时A-Scan和数据记录器功能
179M5149 软件升级：CL Go+ CL Go+软件升级到USM Go+/DMS Go+
179M5150 软件升级：CL Go+ DL CL Go+ DL软件升级到USM Go+/DMS Go+
179M5151 软件附加功能：数据记录器（DL） 将数据记录器（DL）添加到CL Go+
