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TH2848-05精密阻抗分析仪
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代理商上海增骏实业有限公司专业代理销售存储记录仪,温度记录仪,数据采集器,波形记录仪,数字示波器,直流稳压电源,LCR测试,电阻测试仪,功率计,风速仪,电子负载,等各种工业检测仪器。提供仪器销售和技术支持。
TH2848-05精密阻抗分析仪介绍:
TH2848系列精密阻抗分析仪是同惠电子采用了的自动平衡电桥原理及新一代测量控制技术研发成功的新一代精密阻抗分析仪,创新性的采用了双CPU架构、Linux底层系统、10.1寸电容式触摸屏、中英文操作界面、内置使用说明及帮助等新一代技术,解决了以往LCR测试速度慢、显示单一、操作繁琐等缺陷。
TH2848系列精密阻抗分析仪设计频率从4Hz-2MHz/5MHz/10MHz,标配了压电导纳圆、介电常数测试功能,让阻抗分析功能得以进一步提升。
得益于采用了10.1吋、分辨率达1280*800的电容式触摸屏,TH2848系列精密阻抗分析仪采用了四参数显示、所有设置、监视、分选参数、状态等可以在同一屏显示,避免了频繁切换的繁琐操作。
快速选型
简要参数 | TH2848-02L | TH2848-02 | TH2848-05 | TH2848-10 | |
测试频率 | 4Hz-2MHz | 4Hz-2MHz | 4Hz-5MHz | 4Hz-10MHz | |
基本精度 | 0.05% | ||||
AC信号源 | 电压 | 5mVrms - 2Vrms | 5mVrms - 20Vrms | ||
电流 | 0mArms - 20mArms | 0mArms - 100mArms | |||
DC偏置 | 电压 | 0V - ±10V | 0V - ±40V | ||
电流 | 0mA - ±100mA | 0mA - ±100mA | |||
独立电压源 | 0V - ±10V | ||||
DCR测试信号 | 电压 | 100mV-1V | |||
电流 | 0mA - 10mA | ||||
多功能参数列表扫描 | R | R | R | R | |
图形分析扫描 | 图形扫描 | R | R | R | R |
压电导纳圆 | S | R | R | R | |
介电常数 | S | R | R | R |
性能特点
• 测试频率:4Hz-10MHz
• 高精度0.05%:采用自动平衡电桥技术,四端对测试配置
• 高分辨率:10.1英寸,分辨率1280*800,电容式触摸屏
• 高稳定性和一致性:15个量程配置
• 高功率:信号电平:20VAC/100mAAC
内置直流偏置:±40VDC/100mADC
• 高速度:双CPU架构,最快达400次/s(2.5ms)测试速度
操作便捷:Linux操作底层、触摸操作、嵌入式帮助
点测、列表扫描、图形扫描三种测试方式
四参数测量
一键记录、一键截屏
201点多参数列表扫描功能
图形扫描功能,4轨迹任意选择,支持1/2/4分屏
压电导纳圆测试、介电常数测试
强大的分选:LCR模式:10档分选
图形分析模式:支持曲线条件分选
高兼容性:支持SCPI/MODBUS指令集,兼容KEYSIGHTE4980A、E4980AL、HP4284A
仪采用了四参数显示、所有设置、监视、分选参数、状态等可以在同一屏显示,避免了频繁切换的繁琐操作。
应用
■ 无源元件:
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
■ 半导体元件:
LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
■ 其它元件:
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估
■ 介质材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
■ 磁性材料:
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
■ 半导体材料:
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
■ 液晶单元:
介电常数、弹性常数等C-V特性
技术参数
产品型号 | TH2848-02L | TH2848-02 | TH2848-05 | TH2848-10 | |||||||
显示 | 显示器 | 10.1英寸(对角线)电容触摸屏 | |||||||||
比例 | 16:9 | ||||||||||
分辨率 | 1280×RGB×800 | ||||||||||
测量参数 | 方式 | 四参数任意选择 | |||||||||
AC | Cp、Cs、Lp、Ls、Rp、Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC | ||||||||||
DC | RDC | ||||||||||
压电 | Cp、D、ε、|ε|、εr'、εr''、tanδ、Q | ||||||||||
测试频率 | 范围 | 4Hz-2MHz | 4Hz-2MHz | 4Hz-5MHz | 4Hz-10MHz | ||||||
精度 | 0.01% | ||||||||||
分辨率 | 0.1mHz | 20.0000Hz-99.9999Hz | |||||||||
1mHz | 100.000Hz-999.999Hz | ||||||||||
10mHz | 1.00000kHz-9.99999kHz | ||||||||||
100mHz | 10.0000kHz-99.9999kHz | ||||||||||
1Hz | 100.000kHz-999.999kHz | ||||||||||
10Hz | 1.00000MHz-9.99999MHz | ||||||||||
AC测试信号模式 | 额定值 (ALC OFF) | 设定电压为测试端开路时Hcur电压 | |||||||||
设定电流为测试端短路时从Hcur流出电流 | |||||||||||
恒定值 (ALC ON) | 保持DUT上电压与设定值相同 | ||||||||||
保持DUT上电流与设定值相同 | |||||||||||
测试电平 | 电压范围 | 0Vrms - 2Vrms | 0mVrms-20Vrms | F≤1MHz | |||||||
0mVrms-15Vrms | F>1MHz | ||||||||||
0mVrms-2Vrms | 2MHz<F≤5MHz | ||||||||||
0mVrms-1Vrms | 5MHz<F≤10MHz | ||||||||||
准确度 | ±(10%×设定值+2mV)(AC≤2Vrms) ±(10%×设定值+5mV)(AC>2Vrms) | ||||||||||
分辨率 | 0.1mVrms | 0mVrms-0.2Vrms | |||||||||
0.2mVrms | 0.2Vrms-0.5Vrms | ||||||||||
0.5mVrms | 0.5Vrms-1Vrms | ||||||||||
1mVrms | 1Vrms-10Vrms | ||||||||||
10mVrms | 10Vrms-20Vrms | ||||||||||
电流范围 | 0mArms-20mArms | 0mArms-100mArms | |||||||||
分辨率 (100Ω内阻) | 1μArms | 0μArms-2mArms | |||||||||
2μArms | 2mArms-5mArms | ||||||||||
5μArms | 5mArms-10mArms | ||||||||||
10μArms | 10mArms-100mArms | ||||||||||
RDC测试 | 电压范围 | 100mV-1V | |||||||||
分辨率 | 100μV | ||||||||||
电流范围 | 0mA-10mA | ||||||||||
分辨率 | 10μA | ||||||||||
DC偏置 | 电压范围 | 0V-±10V | 0V-±40V | ||||||||
准确度 | 1%×设定电压+5mV | AC≤2V | |||||||||
2%×设定电压+8mV | AC>2V | ||||||||||
分辨率 | 0.1mV | 0V - ±5V | |||||||||
1mV | ±5V - ±40V | ||||||||||
电流范围 | 0mA - ±100mA | ||||||||||
分辨率 | 1μA | 0mA-50mA | |||||||||
10μA | 50mA-100mA | ||||||||||
电压源 | 电压范围 | -10V - 10V | |||||||||
分辨率 | 1mV | ||||||||||
电流范围 | -45mA - +45mA | ||||||||||
输出阻抗 | 100Ω | ||||||||||
测试端配置 | 四端对 | ||||||||||
测试电缆长度 | 0m、1m | ||||||||||
输出阻抗 | 100Ω,±1%@1kHz | ||||||||||
数学运算 | 与标称值的绝对偏差Δ,与标称值的百分比偏差Δ% | ||||||||||
等效方式 | 串联、并联 | ||||||||||
校准功能 | 开路OPEN、短路SHORT、负载LOAD | ||||||||||
测量平均 | 1-255次 | ||||||||||
量程选择 | 自动AUTO、手动HOLD | ||||||||||
触发模式 | 连续、单次 | ||||||||||
触发延时 | 0-60s | ||||||||||
量程配置 | LCR | 100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ | |||||||||
RDC | 10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ | ||||||||||
测量时间(ms/次) | 快速:2.5ms, 中速:90ms 慢速:220ms | ||||||||||
最高准确度 | 0.05%(具体参考说明书) | ||||||||||
测量显示范围 | a:1×10-18;E:1×1018 | ||||||||||
Cs、Cp | 0.00001pF - 9.99999F | ||||||||||
Ls、Lp | 0.00001μH - 99.9999kH | ||||||||||
D | 0.00001 - 9.99999 | ||||||||||
Q | 0.00001 - 99999.9 | ||||||||||
R、Rs、Rp、X、Z、RDC | 0.001mΩ - 99.9999MΩ | ||||||||||
G、B、Y | 0.00001μs - 99.9999S | ||||||||||
VDC | ±0V - ±999.9999V | ||||||||||
IDC | ±0A - ±999.9999A | ||||||||||
θr | -3.14159 - 3.14159 | ||||||||||
θd | -179.999° - 179.999° | ||||||||||
Δ% | ±(0.000% - 999.9%) | ||||||||||
多功能参数列表扫描 | 点数 | 201点,每个点可设置平均数,每个点可单独分选 | |||||||||
参数 | 测试频率、AC电压、AC电流、DC BIAS电压、DC BIAS电流、带介电常数测试功能基于此列表的各点参数设置实现 | ||||||||||
触发模式 | 顺序SEQ:当一次触发后,在所有扫描点测量,/EOM/INDEX只输出一次 | ||||||||||
步进STEP:每次触发执行一个扫描点测量,每点均输出/EOM/INDEX,但列表扫描比较器结果只在最后的/EOM才输出 | |||||||||||
其他特点 | 1. 扫描参数与测试参数都有多种复制功能 2. 每个扫描点均可设置延时 | ||||||||||
比较器 | 每个扫描点最多可测量四个测试参数,每个参数均可设置上下限,所有测试参数都合格输出PASS信号,否则输出FAIL信号,未设上下限则不判断 | ||||||||||
图形扫描 | 扫描点数 | 51、101、201、401、801点可选 | |||||||||
结果显示 | 每个参数的极值以及光标所在点的扫描参数值与对应的测试参数值 | ||||||||||
压电测试 | 集成压电导纳圆测试解决方案 | ||||||||||
扫描轨迹 | 1-4个测试参数任意选择,扫描曲线可以一分屏、二分屏、四分屏 | ||||||||||
显示范围 | 实时自动、锁定 | ||||||||||
坐标标尺 | 对数、线性 | ||||||||||
扫描参数 | 频率、AC电压、AC电流、DCV BIAS/DCI BIAS | ||||||||||
触发方式 | 单次 | 手动触发一次,从起点到终点一次扫描完成,下个触发信号启动新一次扫描 | |||||||||
连续 | 从起点到终点无限次循环扫描 | ||||||||||
结果保存 | 图形、文件 | ||||||||||
比较器 | Bin分档 | 10Bin、PASS、FAIL | |||||||||
Bin偏差设置 | 偏差值、百分偏差值、关 | ||||||||||
Bin模式 | 容差、连续 | ||||||||||
Bin计数 | 0-99999 | ||||||||||
档判别 | 每档最多可设置四个参数极限范围,四个测试参数结果设档范围内显示对应档号,超出设定最大档号范围则显示FAIL,未设置上下限的测试参数自动忽略档判别 | ||||||||||
PASS/FAIL指示 | 满足Bin1-10,前面板PASS灯亮,否则FAIL灯量 | ||||||||||
数据缓存 | 201个测量结果可分批读取 | ||||||||||
存储调用 | 内部 | 仪器内置8GB存储空间,除去系统占用后用户可使用空间约6GB | |||||||||
外置USB | 测试设定文件、截屏图形、记录文件 | ||||||||||
键盘锁定 | 可锁定前面板按键 | ||||||||||
接口 | USB HOST | 2个USB HOST接口,可同时接鼠标、键盘,U盘同时只能使用一个 | |||||||||
USB DEVICE | 通用串行总线插座,小型B类(4个接触位置);与USB TMC-USB 488和USB2.0相符合,阴接头用于连接外部控制器。 | ||||||||||
LAN | 10/100M以太网,8引脚,两种速度自适应 | ||||||||||
HANDLER | 用于Bin分档信号输出 | ||||||||||
GPIB | 标配 | ||||||||||
RS232C | 标准9针,交叉 | ||||||||||
RS485 | 标配 | ||||||||||
开机预热时间 | 60分钟 | ||||||||||
输入电压 | 100-120VAC/198-242VAC可选择,47-63Hz | ||||||||||
功耗 | 不小于130VA | ||||||||||
尺寸(WxHxD)mm | 430x177x265 | ||||||||||
重量 | 11kg |
附件
标配 | |||||
配件名称 | 型号 | ||||
带盒四端绝缘带锁Kelvin测试线 | TH26011BS | ||||
夹具 | TH26048 | ||||
短路片 | TH26010 |
选配 | |||||
配件名称 | 型号 | ||||
电介质测试夹具 | TH26077 | ||||
高频贴片夹具 | TH26108C | ||||
磁环夹具 | TH26008A | ||||
磁环夹具(片式) | TH26007A | ||||
带盒贴片测试线 | TH26009B | ||||
夹具 | TH26047 | ||||
测试夹具 | TH26062A | ||||
测试夹具 | TH26063 |
功能特点
A. 高精度
TH2848系列精密阻抗分析仪采用了宽带自动调零型自动平衡电桥技术,与普通运放I/V型自动平衡电桥相比,它能在更宽的频率范围内保证更高的频率精度!下图以同惠电桥为例,对比了自动平衡电桥与普通电桥在0-10MHz频率范围内的精度差别。目前同惠的宽带自动调零型自动平衡电桥有TH2839系列、TH2838系列和TH2828系列。
B. 高稳定性和一致性
TH2848系列精密阻抗分析仪,除了宽带自动调零型自动平衡电桥原理带来的高精度和高稳定性之外,仪器内置了15个测试量程,也是稳定性和一致性的有力保障。
C. 10.1寸大屏,四种测量参数,让细节一览无遗
10.1寸触摸屏、1280*800分辨率,Linux系统、中英文操作界面,支持键盘、鼠标、LAN接口,带来的是无以伦比的操作便捷性。
大屏幕带来更多的好处是,可以把4个测试参数及分选参数、分选结果、功能选择等参数放置在同一屏幕,而且看起来绝不拥挤和杂乱,同时可以显示四种测量参数,四种测量参数任意可调。
和早期LCR对比,操作便捷性、显示完整性一目了然。
D. 压电器件分析功能
对于其他压电器件如压电陶瓷滤波器、压电陶瓷陷波器、压电陶瓷鉴频器、压电陶瓷变压器、大功率超声波发生器、换能器(振子)、声表面波器件、电声器件等都可以测试如静态电容、损耗、谐振频率、反谐振频率、机械耦合系数等参数。
对于需要专业性的压电导纳圆测试,TH2848系列精密阻抗分析仪也内置了,无需购买上位机即可在仪器图形扫描分析界面直接实现。
E. 介电常数分析功能
在材料分析领域,介电常数分析是一个基本的内容,TH2848系列精密阻抗分析仪内置了介电测试功能,可以将介电常数当成阻抗分析仪的常规测试项目一样进行单测、列表扫描、图形扫描分析。
F. 增强的多功能参数列表扫描功能
最多支持201点列表扫描,每个扫描点可设置4个测量参数,4个测量参数有独立开关,列表扫描每个点的频率、电平、偏置、功能、延时都可以独立设置,满足了大多数客户的需求
改进的列表扫描分选结果输出:每行可以不同的输出,或任意几行合并结果输出,所有结果可在HANDLE接口直接输出
G. 强大的分析图形界面
4个扫描轨迹,1-4个测试参数任意选择,扫描曲线可以一分屏、二分屏、四分屏
H. 10档分选及可编程HANDLER接口
仪器提供了10档分选,为客户产品质量分级提供了可能,分选结果直接输出至HANDLER接口
在与自动化设备连接时,怎么配置HANDLER接口输出,一直是自动化客户的难题,TH2848系列精密阻抗分析仪将HANDLER接口脚位、输入输出方式、对应信号、应答方式等可视化,让自动化连接更简单。
I. 智能固件升级方式
仪器本身功能完善、BUG解决、功能升级等,都可以通过升级固件(Firmware)来进行更新,而无需返厂进行。
TH2848系列精密阻抗分析仪固件升级非常智能,可以通过系统设置界面或者文件管理界面进行,智能搜索仪器内存、外接优盘甚至是局域网内升级包,并自动进行升级。
J. 大内存,支持更多配置文件及图片存储
TH2848系列升级了更大的内存,除去系统占用空间,用户可使用空间将近6GB,可存储更多的设置文件及屏幕截图
同时支持外接USB存储扩展,外置USB存储支持设置文件、屏幕截图、数据记录文件。
数据记录文件默认存储在外置存储。
K. 全接口配置,联机再无忧虑
TH2848标配了目前测试仪器通讯所有常见接口,和电脑、PLC通讯再无障碍。
L. 标配附件
M. 可选测试附件