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Thick 800A X射线荧光镀层测厚仪
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便携式X荧光有害元素分析仪，能量色散X荧光光谱仪
一般经营项目是:仪器的租赁;分析测试软件的技术咨询与销售;精密检测仪器的技术开发、技术咨询与销售;国内贸易。(法律、行政法规、决定禁止的项目除外，限制的项目须取得许可后方可经营)，许可经营项目是:仪器的上门维修。
详细信息
技术指标
分析元素范围：硫（S）～铀（U）
同时检测元素：多24个元素，多达5层镀层
分析含量：一般为2ppm到99.9%
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）
SDD探测器：分辨率低至135eV
的微孔准直技术：小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 高速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度：15℃～30℃
