德国菲希尔荧光镀层测厚及材料分析仪

荧光光谱镀层厚度测量仪膜厚测试仪优点

德国设计 ，技术先进

一个软件实现镀层厚度测量和材料分析两个功能

扩展统计功能。例如，测量结果可以记录并转为SPC图表显示

图像识别：WinFTM可以自行查找预设的测量位置

基于基本参数分析的无标准片测量：在手边样本组成未知的情况下实现精确的测量结果

距离控制测量（DCM）：允许通过快速更改测量距离，在不需要设置和校准另一个测量任务的情况下，测量不同高度的测试部件。软件能够识别测量的距离，并自动校正评估。

测量质量：我们的仪器可以判断您的测量质量。错误地选择了错误的测量任务或测量了错误的样品？您的FISCHERSCOPE仪器会提醒您

任务程式：只需单击一下，几乎可以对WinFTM软件中执行的所有操作进行编程并执行。例如，一项任务可以自动测量多个合金样品。 X射线仪器将XY工作台移动到样品位置，加载每个合金特定的测量条件，最后根据您的需要生成测试报告

FISCHERSCOPE X射线荧光仪器

在无损无接触的涂层厚度测量和材料分析领域，FISCHERSCOPE X射线仪器是理想的选择。自1983年以来，我们的X射线仪器已成为几乎所有主要行业质量测试的一个组成部分。我们的仪器以其精确性、准确性和耐用性而闻名。同时，FISCHERSCOPE X射线的设计易于使用，并在测量的各个方面为您提供支持。 这使您可以专注于手头上的质量工作，而不是测量仪器上。

我们的X射线仪器配有专用的FischerWinFTM软件，旨在规范测量过程。这包括控制X射线、实现测量的可追溯性、生成个性化测量报告以及与内部网络交互。

我们种类齐全的X射线设计用于高可靠性地测量不同的应用。电子、电镀、汽车、黄金和珠宝等领域的公司以及更多的公司都依赖于FISCHERSCOPE X射线仪器进行质量控制。现在就来看看我们的X光仪器并找出原因吧！

德国菲希尔荧光镀层测厚及材料分析仪

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230
荧光光谱镀层厚度测量仪膜厚测试仪，采用手动方式，测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。


FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237
X 射线荧光材料分析及镀层测厚仪，配备可编程运行 X/Y 工作台及 Z 轴升降系统，全自动测量超薄镀层厚度和分析材料成分。


FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240
X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，用于无损测量镀层厚度及分析材料成分


FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 252
高性能X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，用于快速、无损分析材料成分及测量镀层厚度