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X-MET8000 日立手持式X射线荧光分析仪
- 型号
- X-MET8000
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深圳市泰立仪器仪表有限公司成立于2005年，无损检测仪器配套方案提供商，专业从事：磁导率测量、电导率测量、涡流漏磁、超声、射线、金相、光谱、材料检测...测试仪器仪表设备的代理、销售和服务工作。并与国外杰出仪表生产厂商有着广泛的技术与销售合作的良好基础。德国FOERSTER霍释特、德国NewSonic、德国Optisense、以色列 ScanMaster、美国Dakota达高特、英国SONATEST声纳、英国ETHER NDE易德、美国GE通用、等公司的中国区销售代理。产品广泛应用于工业、电子、半导体、太阳能、医药、能源等各个领域，并服务于各大企业、院校、研究所、检测机构及政府部门等。
详细信息
日立手持式X射线荧光分析仪X-MET8000
特点：
“一键”分析：操作简单，只需简单培训
大图标触摸屏界面易于操作，尺寸大的彩色触摸屏，采用图标操作的用户界面
在任何天气条件下都能呈现很好的可视度
简单强大的安全数据下载系统，灵活的报告导出格式，并具有wifi功能
强大数据下载功能，灵活的报告格式
经久耐用的设计
广泛的金属牌号库
快速准确的分析
长达10-12小时的电池量，充电一次可以使用一整天
用途：
X-MET8000系列 操作灵活简单，是各个行业元素分析的理想工具。基于行业认可的能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，X-MET8000 系列性能强大、可靠性高，只需要一个按键就能保证快速、无损材料分析。
应用广泛：
废旧金属分拣，材料可靠性鉴定，无损金属检测，矿物勘探，符合性检测，土壤分析等。 测量原理：X射线是指波长为0.001-50nm的电磁辐射，由于X射线的能量较高，原子的内层电子吸收X射线的能量后会激发成为自由电子。然后，外层的电子会填补内层电子的空位，这就是电子迁跃，电子跃迁的同时会放射X射线荧光。电子跃迁的能量等于两电子能级之间的能量差，因此，X射线荧光的能量或波长是具有特征性的，与元素有一一对应的关系。只要测出荧光X射线的波长，就可以知道元素的种类。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此可以进行元素的定量分析。
日立手持式X射线荧光分析仪X-MET8000技术规格
探测器 | 采用硅漂移(SDD)高分辨率探测器，分辨率优于150eV |
靶材 | 采用Rh靶材X射线光管，电压40KV，电流50uA |
测试窗口 | 9毫米 |
重量 | 1.5公斤（含电池） |
认证 | CE |
防护 | 通过IP54（NAME3）防水防尘测试，提供SGS认证书 |
工作温度 | -10~+50℃ |
供电电池 | 持续使用时间10~12小时，110/230V，50/60HZ直流电源充电器 |
显示屏 | 4.3英寸Ban view Anti 彩色防反光触摸屏 |
操作系统 | 采用更稳定简洁的Linux操作系统，用户可建立数据库 |
操作语言 | 提供两块可充电可显示电量的锂电池，可12种语言操作界面包括：英文、简体和繁体中文、韩语、日语、德语、法语、波兰语、意大利语、西班牙语、葡萄牙语和俄语 |
通讯 | 可通过USB传输数据，无需特殊软件在浏览器页面即可运行设备;也可通过U盘导出数据和谱图并提供专用U盘；或使用wifi或蓝牙在线网络共享 |
报告编辑器 | 报告编辑器用于生成客户自定义模板和报告。检测结果和报告可生成CSV格式或防篡改PDF格式，确保原始数据的安全性 |
测试方法 | 提供土壤样品基本参数法（FP法）：可测试土壤及矿物样品中的 Ag， As， Au， Ba， Ca， Cd， Cr， Co， Cu， Fe， Hg， K， Mn， Mo， Ni， Pb， Pt， Rb， Se， Sr， Sn， Sb， Ta， Th， Ti， Tl， V， W， Zn， Zr Br.等28种元素；提供由中国国标GSS土壤标样校准的符合中国土壤样品测试的检量线法，符合EPA 6200方法要求 |
