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PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆
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PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆,可在室温条件下对材料施加拉力,结合透射电镜原位观察材料结构的变化。
本套系统包括:单倾拉伸样品杆、拉伸控制器、专用拉伸样品载片。 应用方向:研究金属材料、纳米材料、薄膜等的力学变化机制。
透射电子显微镜原位加热/电学测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内安装MEMS工艺制成的微加热芯片和电学测量芯片。微加热芯片可对样品进行可控温度的加热,电学测量芯片可对样品进行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
● 适用于Thermofisher(FEI)、JEOL、Hitachi、Zeiss品牌透射电镜
● 兼容类型极靴
● 保证透射电镜原有分辨率
● 拉伸位移:2 mm
● 拉伸速率:0.2 um-50 um/s
● 拉伸步长:小于100nm
部分国内用户
部分国外用户