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起订量：
实验室光束线装置： SAXSpoint 5.0
- 型号
- 参数
- 应用领域:综合
水质产品：
主要合作品牌产品有：
水质仪器合作品牌主要有：
气体检测仪品牌主要有：
实验室分析器品牌主要有：
传感器品牌主要有：
实验室试剂耗材品牌：
1、nalgene：广口瓶、窄口瓶、放水口大桶、PP桶
THERMO FISHER NUVIA 2B Tech Durridge GW PE
半导体测试设备
物料 电子元器件、芯片
电子仪表
详细信息
SAXS
紧凑型实验室 SAXS 系统
能够随时在 3.6 x 0.9 m 的占地面积上使用小角 X 射线散射研究纳米材料（尺寸、形状、内部结构、比表面等），无需等待昂贵的同步加速器档期。优化您的射线时间并研究不稳定的样品，避免运输隐患。
安东帕精确且可靠的解决方案为 SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS/RheoSAXS 纳米结构材料的日常研究提供了出色的分辨率和的数据质量。强大的仪器系统使用了 X 射线以及无散射光束准直，并且配备了多种样品台以满足多种不同应用。
SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS/RheoSAXS 实验室光束线装置：
SAXSpoint 5.0
紧凑型占地 3.6 m x 0.9 m
研究纳米材料（例如尺寸、形状、内部结构）
非破坏性测量技术
直接在原生生物环境中测量样品
优化同步加速器的测量
SAXSpoint 5.0 是采用同步加速器探测器技术的 SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS/RheoSAXS 实验室光束线，可在紧凑型系统中实现更高分辨率。安东帕出色的 SAXS 系统，可解析高达 620 nm 的纳米结构。SAXSpoint 5.0 能够在室温环境和非室温环境条件下分析几乎所有的材料，灵活性好。SAXSpoint 5.0 配备了许多附加的可选功能，适合可达微米范围 (USAXS) 的潜在应用。通过功能强大的软件包，可以自动进行操作和数据分析，轻松实现材料特性的无损研究。
在极短测量时间内提供出色的数据质量
SAXSpoint 5.0 采用高亮度 X 射线束，该射线束拥有高光谱纯度和无散射光束准直。配备强大的微焦斑光源或 MetalJet X 射线源和高性能光学元件，可在更短的曝光时间内提供出色的测量结果。结合更新的混合光子计数 (HPC) 探测器，可确保获得高质量的 SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS/RheoSAXS 结果，以实现纳米结构材料分析。通过这种出色的设置，可以实现更好的分辨率，并以同类产品中较紧凑的系统尺寸（3.6 x 0.9 m）解析高达 620 nm（USAXS 为不超过微米范围）的结构。
一次性获得 SAXS 和 WAXS 数据
SAXSpoint 5.0 具有移动探测器 Slidemaster，可在非常宽的 q 范围内进行全自动 X 射线散射研究。一次性获得 SAXS 和 WAXS 数据，无需重新校准系统。只需移动探测器，即可为每次实验选择更好的 q 范围，从高 SAXS 分辨率到宽 WAXS 范围。
SAXSpoint 5.0 为您的测量提供自动光束选择和定位。由于集成了更新的 EIGER2 R 探测器，因此可以进行无窗口和无光束遮挡测量。
SAXS 分析有难度吗？使用 SAXSpoint 5.0 不是为了
自动完成日常测量工作，加快测量速度，而是 SAXSpoint 5.0 实验室系统的标准性能。SAXSpoint 5.0 配备了 Stagemater，可以自动校准所有 X 射线部件和样品台，识别安装的样品台，并相应地配置系统。这为您的测量设置提供更佳的可能结果。使用 低容量液体自动进样器实现样品通量自动化，最多可容纳 192 个样品，并配有温控孔板隔室，用于在储存期间冷却和加热样品。
选择样品台：同一系统适用于所有实验条件
几乎任何的纳米结构材料都可以使用安东帕的各种样品台进行分析。使用 TrueFocus 可以轻松、快速地在不同的样品台之间切换，确保自动校准所有组件。
TCStage样品台装置：在 -150 °C 到 600 °C 范围内进行控温研究
湿度样品台：在规定的相对湿度和温度条件下进行分析
GISAXS/GIXD 样品台：纳米结构表面和薄膜研究
加热/冷却多位样品台：利用温控的多位台进行自动研究
Tensile 样品台：在规定的机械载荷下，分析纳米结构纤维
RheoSAXS 模块：一次性进行完整的流变和纳米结构研究
功能强大的控制和数据分析软件
SAXS 数据分析很复杂。直观的 SAXSdrive™ 和 SAXSanalysis™ 软件解决方案是获得结果的方法。支持自动执行常规程序步骤，如测量设置和校准，以及综合数据分析。设置连续测量，利用自动进样、温度扫描和时间相关研究，并使用可定制的模板来分析 1D 和 2D 数据集。测定回转半径 (RG)、粒径、Porod 常数、比表面积、Kratky 曲线等参数是 SAXSanalysis™ 的标准功能。
技术规格
| X 射线源 |
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| X 射线光学元件和准直系统 |
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| 样品台和自动进样器 |
根据需求提供的定制样品台 |
| 特殊功能 | Slidemaster：移动探测器（X、Y、Z 方向平移） |
| 温度范围 | -150 °C 至 +600 °C |
| 温度准确度 | 0.1 °C |
| 气氛 | 真空、空气、惰性气体、湿度（根据需求也可以是反应性气体） |
| 样品架 |
根据需求提供定制样品台，请联系我们 |
| 探测器 | 2D EIGER2 R 和 PILATUS3 R 系列探测器 高分辨率 WAXS 模块（EIGER2 R 系列） |
| 可达到的 q 范围 | 0.01 nm-1 to 49.3 nm-1 (主探测器) |
| 软件 |
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| 占地面积 |
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