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半导体芯片HAST测试设备 试验箱

是一种用于评估芯片在低温环境条件下性能和可靠性的测试方法。半导体芯片HAST，HAST加速老化试验箱广泛应用于多层电路板、IC封装、液晶屏、LED、半导体、磁性材料、NdFeB、稀土、磁铁等材料的密封性能测试，对上述产品的耐压力和气密性进行测试。

半导体芯片HAST测试设备 试验箱

半导体芯片HAST，HAST测试机试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。 随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也 相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用的压力蒸煮锅试验方法。

产品特点

1.半导体芯片HAST，HAST高压加速老化试验机采用较新优化设计,美观大方，做工精细

2.具备特制的试样架免去繁杂的接线作业

3.大容量水箱,试验时间长,全自动补水，试验不中断

4.与试样数量相吻合的试样信号施加端了

5.采用触摸屏，具有USB曲线数据下载功能

6.采用高效真空泵，使箱内达到较佳纯净饱和蒸汽状态

7.一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长

8.多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示。

9.可根据客户不同需求定制专用HAST试验设备（如: HAST内箱尺寸及偏压可满足客户不同的测试需要）

半导体芯片HAST，HAST测试机可根据客户产品定制专用产品架

满足

1. IEC60068-2-66

2. JESD22-A102-B

3. EIAJED4701

4. EIA/JESD22

5.GB/T 2423.40-1997

规范要求

半导体芯片HAST