起订量:
TSE320-S 快速型一键闪测量仪
中级会员第1年
经销商圆松(成都)精密仪器设备有限公司
致力于长度计量仪器、光学测量仪器、几何测量仪器、材料检测仪器、表面涂装检测仪器的销售和维护服务,是一家生产、贸易、服务性公司。本公司有销售和技术人员,为客户提供方便、守信、快捷的售前(演示、技术介绍)售中(选型、试样)售后(维护、保养)在客户需要的时候,我们人员能够及时来到客户现场,提供急需的服务。
主营范围:长度计量仪器、光学测量仪器、计划测量仪器、材料检测仪器、表面涂装检测仪器,Mitutoyo/日本三丰、Mahr/德国马尔、TESA/瑞士、Trimos/瑞士丹青、Hexagon/海克斯康、ZEISS/蔡司、Nikon/日本尼康、Peacock/日本得乐、PEAK/日本必佳、X-Rite/美国爱色丽、BYK/德国、ElektroPhysik/德国EPK、Helmut Fischer/德国菲希尔、MINOLTA/日本柯尼卡美能达、Qnix/德国尼克斯、ELCOMETER/英国易高。
三坐标测量仪,影像仪,投影仪,测高仪,对刀仪,轮廓度仪,圆度测量仪,粗糙度仪,测长仪,高度计,卡尺,千分尺,千分表,百分表,高度尺,厚度表,大理石平台,大理石构件,测量显微镜,工具显微镜,金相显微镜,生物显微镜,体视显微镜,放大镜,洛氏硬度计、布氏硬度计、维氏硬度计、里氏硬度计,布氏硬度计,显微硬度计,橡胶硬度计,金相切割机,镶嵌机,抛光研磨机,拉力试验机,盐雾试验箱,老化试验箱,恒温恒湿试验箱,防潮柜,干燥柜,环境检测仪器,气候测试仪器,电子天平、国产天平、工业衡器,色差仪,测色计,光泽度仪,涂层测厚仪,膜厚仪,荧光光谱仪,ROHS检测仪等..........
TSE320-S快速型一键闪测量仪
产品简介
TSE-300系列拼接式闪测仪采用双远心光学系统,结合高精度图像拼接测量算法。不仅能快速测量产品的平面尺寸和形位公差,还可搭配镭射(点激光、线激光)测量段差、深度和平面度等尺寸。仪器量测范围可达300*200mm,测量效率是传统影像仪器的10-20倍
1)超高的效率,单次可拼接测量300*200mm的范围,可同时测量上百个产品。30s内即可测量上千个尺寸,效率是传统仪器的10-20倍。
2)优秀的模板匹配功能,产品可任意摆放,无需治具。具有多种模板匹配模式,确保复杂工件都能够精准匹配。
3)强大的拼接测量功能,可支持多图层、多光源切换拼接,不仅可以测量薄片类产品,还可以测量有一定厚度的产品。
4)完善的测量工具,可直接测量点、线、圆、弧、轮廓;丰富的构造工具包含相交、相切、垂直、平行、镜像、平移、旋转;
5)完善的坐标体系,支持工件多重坐标系,支持坐标平移、旋转、调用;
6)支持点激光、线激光,可同时测量高度差、深度、平面度。
TSE320-S快速型一键闪测量仪
项目 | 参数 | |
型号 | TSE320-S | |
测量范围 | 范围 | 280*170mm ;240*150mm(9图拼接) |
单视野 | 82*55mm | |
移动行程(X/Y/Z) | 200mm * 120mm * 75mm | |
测量精度 | 有拼接 | ±(4.5+L/150)μm |
无拼接 | ±3μm | |
*标准件为被测产品 | ||
光学镜头 | 双远心光学镜头 | |
图像传感器 | 2000万像素 | |
软件 | 基于机器学习的图像轮廓匹配算法 | |
亚像素精度几何测量算法 | ||
非线性光学系统畸变校正算法 | ||
多核、多 CPU、GPU 等图像加速处理算法 | ||
外形尺寸 | 540mm * 465mm * 760mm | |
电源 | AC 220V±10% 50Hz | |
环境要求 | 温度(T):20±2℃;相对湿度(RH):30--80% |