秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，X荧光元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。

真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩心中的元素具有超低的检出限，为录井平台提供更有意义的具体数据特征；更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求；同时引入了目前先进的4096道数字多道技术，采用超薄铍窗有高激发效率的X射线管，使仪器计数率更高，稳定性更好，适用面更广；

优化了光路结构、软硬件可靠性，真空腔体使之性能更好、更便携；

抗震性设计，高保护光路设计使得该仪器通过了第三方机构高低温、高低频电动振动及湿热等使用认证；

在现场测试、在线检测以及各类地质勘察多元素检测中充分发挥作用。

X荧光元素录井分析仪EDX5500H主机标准配置：

上照式光路系统直射模式     FAST-SDD探测器      数字多道处理器    高压铍窗X射线管       智能测试软件    校正模块内置    封闭式定向散热系统

高阻尼可动防震缓冲支脚     定制CCD高清摄像头

整套设备包括: Ｘ荧光分析主机、电脑、打印机、粉碎机、压片机、真空泵

录井行业应用案例

l  岩心成份普查：

仅需简单前处理，微量多种元素成分尽在掌握。

l  现时分析

能快速、现场追踪岩心数据，圈定油气边界。单个样品30多种元素测试仅需1~4分钟；

l  现场分析

    减震、超小的真空腔、超稳固样品静态控制结构设计使仪器可以应对各种现场环境的检测任务；

仪器性能优势：

仪器外形小巧，简洁大方，可用于车载和实验室，使用方法简单，测试效率高；

测试时上照式光路设计加上真空测试腔有效杜绝现场环中粉尘对探测器的污染；

准直器大化设计使样品受激光斑达150mm2 保证测试信号的丰富性，提高测试准确度

封闭式定向风冷散热保证X射线管工作温度稳定，延长X射线管寿命；

分析样品速度快，快可达60S，并且可同时分析40种元素；

高阻尼可动支脚防震设计加上超稳真空控样设计保证了每一个样品与光管、探测器几何关系时刻相一致，屏蔽现场震动所造成的影响；

大面积厚晶体FAST-SDD探测器，配上Rh靶X光管以及良好的散热性，有力地确保测试稳定；

X射线屏蔽设计和高分子材料及安全联动装置有效保证无辐射外漏，让测试人员安全放心使用；