微聚焦多导毛细管镀层厚度测厚仪采用多导毛细管光学系统，可以实现在ji微小样品测试中获得geng gao的激发qiang度，同等光斑面积下，荧光qiang度是传统X镀层仪器千倍以上；geng gao 计数率bao zheng 了仪器的准确性和wen ding 性。内外双激光，搭载quan zi dong gao jing度样品移动平台，开盖自动弹出功能，让测试geng省心。双摄广角视频系统，配备高分辨率的摄像 头，图像geng清晰，微小样品jing 确ding位、准确分析。

微聚焦多导毛细管镀层厚度测厚仪镀层测试方法

X 射线荧光镀层厚度测量是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出的2次X 射线(X射线荧光)的 qiang度来测量镀层厚度的方法。通过X 射线荧光qiang度测量镀膜厚度的方法有检量线法和基本参数法(FP 法)。

能量色散型X射线荧光镀层测厚仪可在不损坏样品的情况下进行非接触式测量。而且测量时间较短， 仅为3-20s。

多导毛细聚焦镀层检测技术

1、结合镀层行业微小样品的检测需求，研发适用于镀层检测的chao近光路系统，减少能量过程损耗。 搭载多导毛细管聚焦管，ji大的提升了仪器的检测性能，聚焦qiang度提升1000~10000倍，geng gao 的检测灵敏度和分析jing du 以及gao 计数率bao zheng 测试结果的准确性和wen ding 性。

2、全景+微区双相机设计，呈现全高清广角视野，让样品观察geng quan mian ；微米级别分辨率，较好的man zu chao微产品的测试，让测试geng guang fan geng 便捷。

3、优质的多导毛细管技术，信号qiang度比金属准直系统高出几个数量级。

4、多规格可选的多导毛细管，较好的man zu 用户不同测试需求。

5、gao jing 度XYZ 轴移动测试平台，结合双激光点位定位系统，可实现在样品测试过程中的quan zi动化感受， 一键点击，测试geng省心。

微聚焦多导毛细管 镀层厚度测厚仪产品应用行业：

 · 测量chao微小部件和结构，如：印制线路板、连接器或引线框架等；

· 分析chao薄镀层，如：厚度薄至2nm 的Au 镀层和≤30nm 的Pd 镀层；

 · 测量电子和半导体行业中的功能性镀层；

· 分析复杂的多镀层系统；

 ·quan zi动测量，如：用于质量kong zhi ling yu ；

 · 符合ENIG/ENEPIG要求，符合DIN ISO 3497,ASTM B568,IPC4552和IPC4556 标准。