日本SEISHIN目视检查颗粒形状图像分析装置 PITA-04 特点介绍

可以在短时间内分析数十万个颗粒，消除了用显微镜检查的麻烦。

通过目视检查颗粒图像，可以直接检查其是初级颗粒还是聚集颗粒，以及数值。

相机的分辨率得到了提高，可以更详细地看到颗粒图像，并且通过添加新的内置超声波分散装置，现在可以通过这个单一装置执行从分散到测量的所有操作。

测量时实时显示颗粒的流动状态，并显示分散状态和最大颗粒，让您一目了然。您不仅可以使用形状和大小等参数绘制散点图，并根据需要更改参数来重新绘制散点图，而且只需移动光标即可显示该位置的粒子图像和分析结果。

PITA-04可以在最佳的颗粒成像环境中进行颗粒图像分析处理，包括我们为获得清晰的颗粒图像而开发的平面膨胀单元以及采用最新的光学系统。

日本SEISHIN目视检查颗粒形状图像分析装置 PITA-04 规格参数

超声波分散罐标准设备

载液罐内置于主体中

测量时间缩短 相机帧速率大约增加一倍

自动清洗功能标准化

与有机溶剂兼容

丰富的软件辅助功能，即使是初次使用的用户也能轻松进行测量

 分析项目 个数粒径分布、体积/面积当量粒径分布、平均粒径、最大粒径、最小粒径、中值粒径 

 测量项目 当量圆直径、圆度、长径比、长轴、短轴、周长、包络周长、闭孔曲线面积、不平度 

 显示项目 颗粒图像、散点图、粒度分布图、裂纹和碎片数、分散度、测量/分析项目明细表、单颗粒测量结果