MFP Nano plus

符合DIN EN 1822-3和ISO 29463-3标准的U-SMPS过滤介质测试装置，用于确定MPPS范围

产品优点：

•    从10 nm开始的粒径测量

•    符合DIN EN 1822-3和ISO 29463-3标准而且在国际范围内可比较的测量结果

•    简单使用不同的测试气溶胶，例如NaCl / KCl或DEHS（其他可根据要求提供）

•    易于移动的稀释级联，系数分别为10、100、1,000和10,000，用于盐或DEHS测量

•    方便地测量馏分分离效率并确定MPPS范围

•    测试方法的高重复性

•    灵活的过滤器测试软件FTControl

•    易于操作，即使未经培训的人员也可以快速使用设备

•    客户可以自主进行清洁

•    设置时间短，吞吐时间快

•    移动设置，易于在脚轮上移动

•    在交付前验收测试期间以及交付时验证单个组件和整个系统的功能

•    运行可靠

•    低维护

•    设备将减少您的运营成本

产品说明：

在实际的开发和质量控制应用中，Palas®的MFP过滤器测试台已经在世界各地经过多次验证。

MFP Nanoplus专门设计用于根据DIN EN 1822-3和ISO 29463-3标准精确测定HEPA和ULPA过滤介质的分离效率而计。

U-SMPS形式、现代且功能强大的纳米颗粒测量设备可将用于5 nm到1 µm范围粒度测量和量化分析。

借助通用气溶胶发生器UGF 2000，可以用DEHS或盐（NaCl / KCl）生产与MMPS范围相匹配的准确气溶胶分布。

由于采用可移动稀释液级联，因此可以在非常短的时间内将测试设备从使用盐雾剂转换为DEHS雾剂，而无需清洗。

测试序列的高度自动化设置以及清晰定义的单个组件和滤波器测试软件FTControl的可单独调整程序相结合，共同提供高度可靠的测量结果。

MFP过滤器测试台是用于扁平过滤器介质和小微型过滤器的模块化过滤器测试系统。可以在很短的时间内确定压力损失曲线、馏分分离效率或负荷，既可靠又具有成本效益。

我们的质量细节

1.使用UGF 2000产生多种气溶胶，例如使用KCl/NaCl或DEHS。集成的硅胶干燥长管。通过质量流量控制器单独调节产生的气雾体积流量。

2.气溶胶中和：Kr 85-370电源或软X射线充电器XRC 370电晕放电（可选）：可调节离子流以适应不同质量流量。可调混合空气，流入速度为1.5至40厘米/秒。通过质量流量控制器实现监视和控制。

3.可移动的气动过滤器支架，用于快速拆卸和装载测试装置。

4.可移动的稀释液级联：稀释液级联可以按规定的10、100、1,000和10,000因子对所施加的测试气雾剂进行规定的稀释。由于它们是可移动的，因此可以在很短时间内将测试设备从使用盐雾剂转换为DEHS雾剂。无需长时间或复杂地清洁系统。

5.用于纳米颗粒测量的U-SMPS

Palas®过滤器测试软件FTControl控制U-SMPS并评估数据。

将气溶胶分布调整到MPPS范围

通过适当调整溶液浓度，可以将生成的粒度分布与MFP Nano plus中的相关MPPS范围匹配。

图1：使用DEHS调整所需MPPS范围的粒径

图2：比较140 nm粒径MPPS范围内的馏分分离效率

•    清晰展示整个测量范围内过滤介质的分离效率

•    精确测定MPPS范围

•    测量重现性和可重复性突出显示分离效率的微小差异

•    优化的应用程序将每次分离效率测量的测量时间缩短到6分钟左右

•    分离效率曲线的简单比较，也可以计算平均值

自动化：

MFP Nano +集成有质量流量控制器，可用于控制体积流量；可以通过FTControl过滤器测试软件自动监视和控制这些流量。在过滤器测试期间，还会自动记录传感器数据，例如过滤器流量和压差。在没有稀释系数与分离效率（10、100、1,000或10,000）相匹配的过滤介质情况下进行原始气体测量。然后，在不稀释并插入过滤介质的情况下进行清洁气体测量。稀释系数的改变是自动执行的。

稀释系数的验证：

集成在MFP Nanoplus中的稀释系统的工作原理与采用喷射原理的成熟的VKL系列相同。 这种稀释级联的优点是传输过程清晰、污染程度低而且容易清洗。

图3：将原始气体/清洁气体与10倍NaCl颗粒进行比较来验证稀释系统数

•    使用MFP Nanoplus，可以在MPPS范围内以及整个测量范围内进行馏分分离效率测量。 另外，在相关的流入速度下，清楚地确定介质相关压力损失。

应用领域：

•    用于过滤介质和小型过滤器组件

•    产品开发/生产控制

•    根据EN 1882-3（HEPA / ULPA）和ISO 29463-3标准进行测试

•    分离效率测量范围约为 20 nm至1 µm

规格参数：