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U-SMPS 1700 通用扫描迁移率粒度仪

型号
参数
产地类别:进口 应用领域:综合
帕剌斯仪器(上海)有限公司

高级会员5年 

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环境空气颗粒物连续自动监测系统,纳米级颗粒物测量设备,滤料性能测试台,口罩过滤效率测试台,过滤器性能测试台,气溶胶粒径谱仪及传感器,气溶胶发生器和稀释系统

作为气溶胶测量技术的专家,Palas®将其在颗粒和过滤技术领域制定安全标准的长期专业知识带入了中国,将其技术集成在高精度和认证仪器中,可用于生产和表征空气中的颗粒。作为一家通过ISO 90012015质量管理体系认证的公司,Palas®的解决方案符合欧洲标准(EN)、美国国家职业安全卫生研究所标准(NIOSH)、以及中国GB2626口罩检测标准。在环保方面,Palas®同样遵守多项环境监测行业标准(EN 15267, HJ653等)。

Palas® brings its long-lasting expertise in the development of safe standards in the particle and filter technology to China. We deliver unparalleled technology in the market integrated in high-precision and certified devices for generating and characterizing particles. As an ISO 9001:2015 certified company, our solutions are compliant with European EN norms, The National Institute for Occupational Safety and Health (NIOSH) Standard and of course with the Chinese GB2626 Standard. In terms of environmental protection, Palas® also complies with a number of environmental monitoring industry standards (EN 15267, HJ653, etc.).

 

 

 

 

 

 

 

详细信息

适用于高气溶胶浓度的Palas®U-SMPS 1700 通用扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)有两种版本。 U-SMPS带有短分类柱(1700型),特别适合2-400 nm范围内的高精度粒度分布测量。Palas®U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义称为差动迁移率分类器(DEMC),也称为差动迁移率分析仪(DMA)],根据气溶胶颗粒电迁移率选择气溶胶颗粒并传递到出口。然后,在下游的Charme®气溶胶静电计中测量这些粒子携带的电荷。

气溶胶静电计的一个主要优点是可以进行非常快速的测量。但是,这种方法需要很高的成本。因此,其适用性被限制于高气溶胶浓度(例如,燃烧过程或颗粒发生器的下游)。可以通过物理参数直接追溯每时间单位(流量)的电荷测量值。其结果是,此方法主要用作凝结粒子计数器(例如UF-CPC)校准期间的参考。

U-SMPS使用触摸屏图形用户界面进行操作。可以在短短30秒内执行单粒子分布扫描,或者在多达128个尺寸通道中执行扫描,在此期间,DEMC分类器中的电压连续变化,从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估(丰富的统计和平均值计算)和导出功能。

U-SMPS通常作为独立设备运行,但也可以使用各种接口(USB,LAN,WLAN,RS-232 / 485)连接到计算机或网络。 Palas®U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA,CPC和气溶胶静电计。

U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能尤其重要,特别是对于校准。所有组件都必须通过严格的质量保证测试,并在内部组装。

图1展示U-SMPS 1700 通用扫描迁移率粒度仪的工作原理:
U-SMPS 1700 通用扫描迁移率粒度仪
图1:使用气溶胶静电计作为浓度测量装置的通用扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)的工作原理

气溶胶在进入分类器(DEMC列)之前经过调节。可选的干燥器(例如硅胶,Nafion)可以去除颗粒中的水分。使用双极中和剂(例如Kr 85)来确保测定的气溶胶电荷分布。为了去除大于分类器尺寸范围的颗粒,需要在DEMC的入口处使用撞击器。

然后,气溶胶通过入口导入DEMC色谱柱。沿着外部电极的气溶胶流在此与护套气流仔细合并。重要的是在此处避免任何湍流,以确保层流。电极的表面在光滑度和公差方面必须具有高的质量。

鞘空气是干燥、无颗粒的载气(通常是空气),其体积大于连续在闭环中循环的气溶胶体积。鞘空气与样品空气的体积比决定传递函数,因此决定DEMC的分离能力。通过施加电压,在内外电极之间会产生一个径向对称的电场。内电极在末端带有小缝隙,带正电。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力,带负电的粒子被转移到正电极。根据它们的电迁移率,一些颗粒会穿过狭缝并离开DEMC。

在工作中,电压和电场因此而连续变化。结果,具有变化迁移率的颗粒会离开DEMC,并且由纳米颗粒计数器 – 在此显示为气溶胶静电计(例如Palas®Charme®)连续测量-。

为了组合数据(电压、电荷数、电荷分布等)并获得粒度分布,必须进行逆变换。为此,使用的算法是由IfT(德国莱比锡)的Wiedensohler教授开发的算法。
U-SMPS 1700 通用扫描迁移率粒度仪
图2:在触摸屏显示Palas®DNP 3000颗粒发生器产生的气溶胶粒径分布

用户界面和软件

基于持续的客户反馈,我们设计了良好的用户界面和软件,以实现直观的操作、实时控制并显示测量数据和参数。

此外,软件还通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络支持为数据管理提供支持。测量数据可以显示和评估。

可用系统

图3显示Palas®可提供的DEMC和Charme®气溶胶静电计的两种组合。 对于DEMC分类器与Palas®冷凝粒子计数器的组合,请阅读“U-SMPS 1xx0_2xx0_V0011212”规格参数表。 其他制造商提供的大多数DMA、CPC和气溶胶静电计都可以用作U-SMPS系统的组件。
U-SMPS 1700 通用扫描迁移率粒度仪
图3:用于高浓度颗粒测量的Palas®U-SMPS系统概述

优点:

 

•    2至400 nm粒径分布
•    连续和快速扫描的测量原理
•    高分辨率,多达128个分类器/衰减
•    适用于高达10^8颗粒/立方厘米的浓度
•    通用连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器
•    图形显示测量值
•    直观操作,使用7英寸触摸屏和GUI
•    集成数据记录仪
•    支持多种接口和远程访问
•    低维护
•    功能可靠
•    减少您的运营费用


应用:

•    过滤测试
•    气溶胶研究
•    吸入实验
•    工作场所测量


参数:

测量范围(尺寸)

2 – 400 nm

尺寸通道

高达256(128 /衰减)

测量范围(浓度数据)

0-10^8个颗粒/立方厘米

用户界面

触摸屏,800•480像素,7英寸
(17.78 厘米)

数据记录仪存储

4 GB

软件

PD分析

调整范围(电压)

1 – 10,000 V

体积流量(鞘空气)

2.5 – 14升/分钟

安装条件

+5 – +40 °C(控制单元)


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