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ES622-50 ES622系列TLP脉冲IV曲线系统
- 型号
- ES622-50
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EMC电磁兼容和可靠性分析仪器、仪表、设备综合服务供应商，
芯片级、板级、系统级ESD静电抗扰和EMI电磁干扰测试方案定制商，
行业涉及手机通信消费电子、汽车电子、显示行业、PCB板模组行业、芯片半导体行业，高校科研院所实验室，可为客户提供定制解决方案。
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详细信息
ES622系列TLP脉冲IV曲线系统（含HMM、HBM、MM外部模块）介绍：
1.描述
ES622系列TLP脉冲IV曲线系统是一种IV曲线表征系统，旨在高功率时域中模拟ESD事件（TLP/VF-TLP/HMM/HBM/MM脉冲）及监控设备（半导体、分立器件、电路模块等）。ES622相比之前的ES620，规格更高，功能更多，扩展能力更强，软件体验更佳。
传输线脉冲(TLP)测试功能旨在满足新的ANSI/ESD STM5.5.1测试标准，并将高质量矩形脉冲应用于被测器件并记录器件两端的电压和电流。可绘出脉冲IV曲线，允许用户在纳秒级时间窗口内表征器件的瞬态响应。设备集成了先进的自动器件故障检测方法，例如：直流抽检（V或I）、静态IV曲线、熔断、击穿和偏置源波动。
VF-TLP测试旨在模拟CDM速度ESD事件，并在高速（例如<100ps上升时间）ESD瞬态下捕获DUT两端的电压和通过 DUT的电流。这允许用户研究器件的响应速度和峰值钳位电压。
人体金属模型(HMM)测试功能是IEC61000-4-2系统级ESD的替代测试方法。它为低欧姆设备提供了理想标准波形的等效波形，并消除了组件或晶圆级测试的许多IEC枪测试问题，例如可重复性、枪尖不精确、阻抗不匹配、来自非屏蔽继电器的EMI干扰以及具有大接地平面和耦合平面的特殊装置等。
2.特点
可灵活配置的TLP脉冲IV曲线系统
超紧凑的设计系统
具有多线程处理能力的超快测试速度
提供20A、40A、50A、100A、125A、150A型号（可定制）
可用软件提供高级系统和附件监控和控制（开关寿命监视器、E-Cal 模块、示波器衰减调整）
测试功能可通过VF-TLP、HMM、HBM、MM选项进行扩展
多种故障自动检测方式（直流抽检（V或I）或IV扫描、熔断、击穿和偏置电流变化）
软件控制脉冲：突发、连续、IV曲线表征
上升时间选项从40ps到1200ns（取决于型号，可定制）
脉冲宽度选项从1ns到2000ns（取决于型号，可定制）
注意：EOS系列支持更长的脉冲应用，脉冲宽度从几百ns到几ms
3.应用
ESD性能表征
晶圆/封装级ESD测试
系统/电路模块ESD测试
安全操作区（SOA）测试
充电恢复时间测试
太阳能电池板二极管特性
触摸屏ITO微带线熔断和击穿测试
相关标准：
TLP/VF-TLP选项符合ANSI/ESD STM 5.5.1标准
HMM选项符合ANSI/ESD SP5.6标准
HBM选项符合ANSI/ESDA/JEDEC JS-001标准
MM选项符合ANSI/ESDA SP5.2标准
4.规格
ES622系列TLP单元规格表
参数 | ES622-20 | ES622-50 | ES622-100 | ES622-125 | ES622-150 | 单位 | 可根据要求提供特殊型号，例如 40、100、200+ A |
开路输出电压 | ±0.5~1000 | ±0.5~2500 | ±0.5~5000 | ±0.5~6250 | ±0.5~7500 | V | |
开路最小电压步长 | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1 | V | |
短路输出电流 | ±0.01~20 | ± 0.01~50 | ±0.01~100 | ±0.01~125 | ±0.01~150 | A | |
电压精度 | 精度可在1–10 %之间调节 | % | 速度/精度软件可调 | ||||
最快上升时间* （默认20-80%） | ≤50 | ≤200 | ≤300 | ≤300 | ≤300 | ps | 特殊配置可提供10-90%最快至40 ps 的上升时间 |
上升时间范围 | 0.05~1200 | 0.2~1200 | 0.3~1200 | 0.3~1200 | 0.3~1200 | ns | |
上升时间选项 | 无限的可编程或手动选项 | 可定制 | |||||
脉宽 （默认50-50%） | 100±1 | ns | 默认 | ||||
最小脉宽 | 0.5 | 1 | 5 | 5 | 5 | ns | |
最大脉宽 | 2000 | 2000 | 1500 | 1500 | 1000 | ns | |
脉宽选项 | 无限的可编程或手动选项 | 可定制 | |||||
测试速度 | 通常0.2~2 | s | 因硬件设置而异 | ||||
尺寸 | 347WX300DX145H | mm | 可能因定制而改变 | ||||
重量 | 8 | 8 | 8 | 10 | 12 | kg | |
支持的示波器 | Tektronix，Agilent，LeCroy，Rigol的主要系列 | 其他可根据要求支持 | |||||
支持 的SMU | Keithley 24xx/26xx系列SMU | 其他可根据要求支持 | |||||
ES62X-HMM2外置人体金属模型模块（短路DUT，符合ANSI/ESD SP5.6的100Ω HMM）
参数 | ES620-25 | ES620-50 | ES622-100 | ES620-125 | ES620-150 | 单位 | 备注 |
IEC等效等级 | 6 | 12 | 24 | 30 | 36 | kV | |
HMM 峰值电流 | 22.5 | 45 | 90 | 112.5 | 135 | A | 3.75A每1kV≤±10% IEC 61000-4-2 (R=330Ω, C=150pF) |
HMM 电流 @ 30ns | 12 | 24 | 48 | 60 | 72 | A | ≤±10% (优于±30%IEC) |
HMM 电流 @ 60ns | 6 | 12 | 24 | 30 | 36 | A | ≤±10% (优于±30%IEC) |
ES62X-HBM2外置人体模型模块(ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 R=1.5kΩ, C=100pF)
参数 | ES620-25 | ES620-50 | ES622-100 | ES620-125 | ES620-150 | 单位 | 备注 |
最大 HBM测试等级 | ±2 | ±4 | ±8 | ±10 | ±12 | kV | |
最小HBM 测试等级 | ± 50 | V | |||||
最小测试步长 | 1 | V | 通过USB，用PCB控制 | ||||
电荷泄放电阻 | 10K | Ohm | |||||
电压输出灵敏度 | 1/201 | V/V | 注入50 Ohm时误差小于± 3% | ||||
电流传感器灵敏度 | 1 | V/A | 注入50 Ohm时误差小于± 3% | ||||
测试速度 | >=1 | S | 根据标准，最大1P/s | ||||
物理尺寸 | 90X90X130 | mm | |||||
5.订购信息
编号 | 部件型号 | 描述 |
TLP IV曲线系统基础配置 | ||
1.1 | ES622-20 | ES622 TLP脉 IV曲线系统，20A基础单元 |
1.2 | ES622-25 | ES622 TLP脉冲IV曲线系统，25A基础单元 |
1.3 | ES622-40 | ES622 TLP脉冲IV曲线系统，40A基础单元 |
1.4 | ES622-50 | ES622 TLP脉冲IV曲线系统，50A基础单元 |
1.5 | ES622-100 | ES622 TLP脉冲IV曲线系统，100A基础单元 |
1.6 | ES622-125 | ES622 TLP脉冲IV曲线系统，125A基础单元 |
1.7 | ES622-150 | ES622 TLP脉冲IV曲线系统，150A基础单元 |
上升时间选项 (仅作为案例配置展示，可供定制) | ||
2.1 | ES62x-PRT4 | 可编程的4个脉冲上升时间过滤器模块 |
2.2 | ES62x-PRT10 | 可编程的10个脉冲上升时间过滤器模块 |
2.3 | ES62x-ERTF | 手动外部上升时间过滤器 |
脉宽选项(仅作为案例配置展示，可供定制) | ||
3.1 | ES620-PPL4 | 可编程的4个内置脉宽模块 |
3.2 | ES620-PPL10 | 可编程的10个内置脉宽模块 |
3.3 | ES620-MPLEx | 手动脉宽外部变动选项 |
外置脉冲模块选项 | ||
4.1 | ES62X-HBM2 | 人体模型 (HBM) ESD脉冲模块及测试设置选项 (ANSI/ESDA/JEDEC JS-001脉冲测试及IV测量) |
4.2 | ES62X-HMM2 | 人体金属模型(HMM) ESD脉冲模块及测试设置选项 (IEC61000-4-2脉冲测试及IV测量) |
4.3 | ES62X-MM2 | 机器模型(MM) ESD脉冲模块及测试设置选项 (ANSI/ESDA SP5.2脉冲测试及IV测量) |
漏电或直流IV测量选项 | ||
5.1 | ES62X-SSM | 系统开关模块(在脉冲及直流测试间切换) |
5.2 | ES62X-STP1 | SMU 瞬态保护器 |
直流偏置测量选项 | ||
6.1 | BT-100V2A6G | TLP测试偏置三通，10kHz – 6GHz，100V，2A DC/10A脉冲电流 |
6.2 | BT-100V4A3G | TLP测试偏置三通，10kHz – 3GHz，100V，4A DC/20A脉冲电流 |
6.3 | BT-450V2A5G | TLP测试偏置三通，10kHz – 5GHz，450V，2A DC/10A脉冲电流 |
ESD 注入及IV曲线测量选项 | ||
7.1 | ES62X-PSTT | 用于封装级标准TLP测试的TDR-O测试装置 |
7.2 | ES62X-PVFTT | 用于封装级VF-TLP测试的TDR-S测试装置 |
7.3 | ES62X-CMPS | 简易式手动探针台，配有可灵活移动的真空泵和显微镜 |
7.4 | ES62X-WSTT | 用于晶圆级标准TLP测试的TDR-O测试装置，含探针座 |
7.5 | ES62X-WVFTT | 用于晶圆级VF-TLP测试的TDR-S测试装置，含探针座 |
与TLP系统匹配的示波器 | ||
8.1 | MISC-OSC1 | 数字示波器( 1GHz，5Gs，4通道，推荐用于标准TLP测试) |
8.2 | MISC-OSC6 | 数字示波器( 6GHz，5Gs，4通道，推荐用于VF-TLP测试) |
许多配置可根据客户需求定制。
