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菲希尔XAN215 FISCHER
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菲希尔XAN215 FISCHER
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215无锡骏展仪器供应菲希尔X射线测厚仪是一款入门级能量色散型X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。它适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度，从元素氯（17）到铀（92），可同时测定24种元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样，减少了校准仪器所需的时间和精力。Si-PIN的基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。
| 通用规格 | |
| 设计用途 | 采用能量色散型X射线荧光光谱法（EDXRF）， 用以分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度 |
| 元素范围 | 从元素氯（17）到铀（92），可同时测定24种元素。 |
| 重复性 | 测量金元素时≤1‰，测量时间60秒 |
| 形式设计 | 台式仪器，测量门向上开启 |
| 测量方向 | 由下往上 |
| X射线源 | |
| X射线管 | 带铍窗口的钨靶射线管 |
| 高压 | 三档：30KV，40KV，50KV |
| 孔径（准直器） | φ1mm；可选φ2mm |
| 测量点尺寸 | 当测量距离MD=0mm时，测量点直径=孔径直径+200μm |
| X射线探测 | |
| X射线探测器 | 采用珀耳帖了法冷却的Si-PIN接收器 |
能量分辨率 （Mn元素Kα半高宽） | ≤180eV |
| 测量距离 | 0...10mm |
| 通过DCM测量距离补偿法，可在不同测量距离上不需要重新校准就能进行测量；对于特殊的应用或者对测量精度要求较高的测量，可能需要进行额外的校准。 | |
