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SJ5100 零件尺寸形状高精度测长机
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生产厂家深圳市中图仪器股份有限公司成立于2005年,致力于全尺寸链精密测量仪器及设备的研发、生产和销售。
中图仪器坚持以技术创新为发展基础,拥有一支集光、机、电、信息技术于一体的技术团队,历经20年的技术积累和发展实践,研发出了基础计量仪器、常规尺寸光学测量仪器、微观尺寸光学测量仪器、大尺寸光学测量仪器、常规尺寸接触式测量仪器、微观尺寸接触式测量仪器、行业应用检测设备等全尺寸链精密仪器及设备,能为客户提供从纳米到百米的精密测量解决方案。
中图仪器SJ5100零件尺寸形状高精度测长机采用高精度光栅式大量程接触式测量方式,既可以检定螺纹/光面量规、量块、外径千分尺、针规、指示表等各种量具又可以测量齿轮、花键、校对棒等精密工件。广泛应用于机械制造业、工具、量具制造业及仪器仪表制造业等企业的计量室和各级计量鉴定部门,用于工业生产中对物体长度、角度和位置等参数的精确测量。
机械制造:在机械制造过程中,可以用来测量各种零件的尺寸和形状,以确保产品的质量和精度。
半导体制造:在半导体制造行业中,可以用来测量芯片线宽和间距等微小尺寸参数。
光学加工:在光学加工领域中,可以用来测量光学元件的表面形貌和厚度等参数。
航空航天:在航空航天领域中,可以用来测量航空器的外形和尺寸,以及检测零部件之间的配合精度。
其原理是利用光栅的干涉作用,通过光电检测器将光信号转化为电信号,并经过计算得出被测物体的尺寸。
1、标配功能:
检测量块&块规:(0.1~300mm);
光滑环规:φ5~φ200mm(壁厚≤50 mm,高度≤50mm)、光滑塞规:φ1~φ220mm;
螺纹环规:M5~M200(螺距0.8~4mm)
螺纹塞规:M1~M220(螺距0.25~5.5mm);
光滑卡规:内卡5~200mm,外卡1~300mm
千分尺校对杆:25~300mm;
塞尺:0.02~1mm
针规:φ0.1~φ10mm
三针:0.118~6.585mm;
两点内径千分尺:25~300mm;
2、可选配功能:
小型光滑环规:φ0.8~φ5mm;
螺纹环规:规格M3~M4(螺距0.5~0.7mm);
光滑锥度环规:φ5~φ200mm(厚度≤50mm);
光滑锥度塞规:φ5~φ60mm(长度10~100mm);φ60~φ200mm(长度≤50mm);
螺纹锥度环规:M5~M200mm(厚度≤50mm);
螺纹锥度塞规:M5~M60mm(长度10~100mm);M60~M200mm(长度≤50mm);
锯齿螺纹、梯形螺纹:M3~M400(螺距0.5~6mm);
花键环塞规/花键及标准齿轮(跨棒距测量):内φ10~φ200mm,外φ5~φ200mm,模数0.8~6mm;
外径千分尺示值误差手动校准:25~300mm;
数显及游标卡尺示值误差手动校准:75~300mm;
深度千分尺示值误差手动校准:0~25、25~50、50~75mm;
三爪内径千分尺手动校准:φ6~φ200mm;
表类(百分表、千分表、杠杆表手动校准);
数显半径规手动校准:R5~R700mm;
轴承内外圈锥度、沟槽底径内外径及沟槽宽度、精密零部件的长度尺寸,内外径尺寸测量;
SJ5100零件尺寸形状高精度测长机采用进口高精度长玻璃光栅尺作为长度方向定位,可进行高精度全行程直接测量。
1)高精度光栅测量系统,分辨力达到0.01μm,测量精度高;
2)精密研磨导轨系统导轨直线度高,材料耐磨性好、保证系统高精度稳定可靠的工作;
3)进口特殊材料制作的高刚性、无变形测杆,保证测试数据的高精度真实采集;
4)采用大理石基座,通过有限元分析优化仪器基座结构保障几十年稳定不变形,高刚性大理石底座结构保证了仪器在头座及工作台在测量移动过程中几乎不产生变形,仪器受外界震动干扰小,保证仪器的长期稳定可靠性;
5)采用紧凑型摩擦驱动结构,移动摩擦驱动力小,保证了头座移动过程中的稳定性。
1) 特殊传感器双向恒测力系统,减小了测力对测量结果的影响,保证了高的系统测量精度;
2) 测力较大范围的连续可调;
3) 非砝码加载,测力传感器原理避免了仪器台面不水平及周围环境振动带来的测力误差。
1)X,Y,Z三轴采用高性能交叉滚子导轨:摩擦力小,稳定性好,承载高;
2)Y轴平移、倾斜、水平旋转设计了高调节细度的结构,方便客户更好地找到三个轴的拐点;
3)Z轴及Y轴可配置数显表,可将数据传输到电脑,可用于锥度量规测量及螺纹螺距观察。
配置高性能环规内测装置,可测量小M3螺纹环规(根据选配测针),同时可完成小(φ0.8mm)光滑环规检测(选配测针);测量力为电子测力0.05N、0.1N、0.3N、0.5N,由软件选择测力大小(可根据客户需求定制更小测力)。
型号 | SJ5100-Prec300(精密测量型) | |
测量范围 | 外尺寸 | 直接测量:0~340mm |
内尺寸 | 比较测量:5~200mm(配置比较测量环规) | |
外尺寸示值误差 | ≤±(0.2+L/1000)μm,其中:L为被测长度,单位:mm | |
内尺寸重复性(2S或2δ) | ≤0.1μm | |
内尺寸重复性(2S或2δ) | ≤0.2μm(使用测钩)≤0.3μm(使用内测装置) | |
分辨力 | 0.01μm(可选0.1μm、1μm) | |
测力 | 内测装置传感器测力0.05N、0.1N、0.3N、0.5N、主测力1~10N手动连续可调 | |
测量直径 | 环规200mm(标配) 、塞规250mm(标配) | |
仪器尺寸 | 1400*400*450mm | |
仪器重量 | 150kg | |
五轴工作台 | 型号 | ST-30.1(标配) |
Z轴 | 0~50mm | |
Y轴 | ±25m | |
X轴浮动 | ±10mm | |
Z轴旋转 | ±3° | |
Y轴摆动 | ±3° | |
负载 | 50kg | |
台面尺寸 | 350*25mm |
恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。