泰克KeithleySMU2650系列高功率源测量单元系列大功率 SourceMeter SMU 仪器专为高电压/电流电子产品和功率半导体元件（例如二极管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流转换器、电池、太阳能电池及其他高功率材料、组件、模块和部件）的检定和测试而设计。 它们提供大的功率、精度、速度、灵活性和易用性，可提高研发、生产测试和可靠性环境中的效率。 有两种仪器可用，提供高达 3000V 或高达 2000W 的脉冲电流功率。

泰克KeithleySMU2650系列高功率源测量单元主要特点：

• 高度灵活的四象限电压和电流源/负载，与高精度电压表和电流表相耦合源或阱（2651A）脉冲功率高达2000W（±40V、±50A），或直流电源高达

• 200W（+10V@+20A、±20V@±10A、±40V@+5A）；轻松连接两个器件（串联或并联）创建高达+100A或±80V的解决方案

• 源或阱（2657A）直流或脉冲功率高达180W(±3000V@20mA、±1500V@120mA)

• 内置基于网络浏览器的软件

• 有数字化或积分测量模式可供选择

• TSP（测试脚本处理）技术

• TSP-Link 通道扩展总线

• 兼容于8010型高功率设备测试夹具和8020型高功率接口面板

• 免费的测试脚本构建器软件工具

• 选配的ACS基础半导体元器件检定软件

优势

• 提供相比同类产品颇具优势的性能，具有6%位分辨率。

• 支持功率半导体、HBLED、光学设备、太阳能电池、GaN、SiC和其他复合材料与设备的检定/测试。应用范围包括半导体接点温度检定；高速、高精度数字化；电迁移研究；以及高电流、高功率设备测试。

• 提供功率半导体器件检定和测试所需的高压，包括GaN、SiC及其他复合材料和器件、高达3kV的故障和漏电测试以及亚毫秒瞬态检定。

• 支持通过任何浏览器、任何计算机、从任何地方进行远程控制。

• 支持准确检定瞬态和稳态行为，包括快速变化的热效应。

• 可以与2657A型与2600B系列型号轻松地进行系统集成。

• 让多台2651A和2657A与所选2600B系列SMU仪器组合成多达32条通道的集成系统。

• 为封装部件或晶片级高功率设备测试提供安全而方便的连接。

• 帮助您创建、修改、调试和存储TSP测试脚本。

• 开发、质量检验或故障分析期间执行封装部件检定时，较大限度地提高工作效率。
  产品型号：