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MLP-3 日本mitakakohki半导体全周长三维测量仪
- 型号
- MLP-3
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详细信息
日本mitakakohki半导体全周长三维测量仪MLP-3
非接触式全的方位轮廓测量：MLP-3 专门从事传统坐标测量机、投影仪和激光显微镜无法实现的复杂测量。点自动对焦探头和每个轴的控制（包括旋转）解决了困扰测量人员的问题。
特征
1.不受表面颜色/反射率影响的高精度测量
可以直接测量从表面反射率仅为 0.5% 的镀膜玻璃到反射率达到 90% 或更高的镜面。
2.从各个方向都可以接近
根据工件从最佳方向接近，高精度定量测量截面和三维形状
3.可观察测量点
内置摄像头可以让您持续观察测量点处的激光光斑和工件表面，从而可以准确识别测量位置并进行测量。
4.MLP-3 可实现全周长测量
通过将完的全非接触式自动对焦探头与高精度 5 轴平台相结合，可以测量任何工件圆周上的亚微米形状。
日本mitakakohki半导体全周长三维测量仪MLP-3
非接触式全的方位轮廓测量：MLP-3 专门从事传统坐标测量机、投影仪和激光显微镜无法实现的复杂测量。点自动对焦探头和每个轴的控制（包括旋转）解决了困扰测量人员的问题。
特征
1.不受表面颜色/反射率影响的高精度测量
可以直接测量从表面反射率仅为 0.5% 的镀膜玻璃到反射率达到 90% 或更高的镜面。
2.从各个方向都可以接近
根据工件从最佳方向接近，高精度定量测量截面和三维形状
3.可观察测量点
内置摄像头可以让您持续观察测量点处的激光光斑和工件表面，从而可以准确识别测量位置并进行测量。
4.MLP-3 可实现全周长测量
通过将完的全非接触式自动对焦探头与高精度 5 轴平台相结合，可以测量任何工件圆周上的亚微米形状。
