KEITHLEY2450 吉时利源表
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北京鑫视科科技有限公司，生产地址位于山东省滕州市奚仲路1号墨子科创园D3栋。拥有独栋5层楼4300余平米的生产、实验及办公面积。楼内设施齐全，设有数字化加工中心，生产车间，装配及检测车间，客户实验测试中心，售后服务部，物资部等多个部门。
鑫视科shinsco，深谙科技之力，投入数字化加工及生产设备，汇聚特种氙灯光源、汞灯光源、LED光源、光催化仪器、光热/热催化系统、3D显微镜、光电测试系统、气相色谱仪GC、电化学催化、光学透镜、光学滤片、光机系统等多条生产线。在产能的跨越式增长中，我们坚守品质之巅，用高效的管理理念与先进生产设备，赋予新老用户更高品质的产品体验。
山东滕州，我们的坚实基地，集生产制造、实验测试、安装调试、客户服务于一体，业务覆盖全国。北京鑫视科科技有限公司，作为产品研发与营销中心，销售体系、售后服务体系，致力于服务科研，满足用户需求。北京研发中心紧随科研前沿，为用户提供定制化产品和服务。
鑫视科一直秉承“坚守品质之巅，点亮科学创新” 的科研服务理念，致力于“鑫视科、科技创新加快科研进步”，以专注、恒心、成就铸就鑫视科品牌。我们用心为高校、科研院所提供高性价比的国产实验仪器设备，一丝不苟。
鑫视科愿与广大科研工作者并肩前行，共创美好未来。我们的产品研发围绕国家研发方向，涵盖氢能源制备与利用、碳中和与碳达峰、电化学分析、太阳能利用、新材料性能制备与评价、污染物降解和循环利用等领域。
诚邀您共同探索科研之路，鑫视科shinsco，您科研之旅的信赖伙伴！
详细信息
产品简介：
2450型触摸屏数字源表是吉时利新一代数字源表(SMU)仪器，它真正把欧姆定律(电流、电压和电阻)测试带到你的指尖。吉时利源表其创新的图表化用户界面(GUI)和先进的电容触摸屏技术，实现了直观使用和学习曲线简便化，支持工程师和科学家掌握更迅速、工作更便捷、发明更简单。2450是适用于各行各业使用者的源测量单元(SMU)：这种多用途仪器特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、印刷电子技术以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。这些特性加上吉时利源测量单元(SMU)的精度和准确度，允许用户触摸、测试和发明，无论现在和未来，都将成为您实验室中爱不释手的仪器。
学习更迅速、工作更灵巧和发明更容易同采用专用按钮和小型、昏暗、字母数位有限显示屏的传统仪器相比，2450仪表采用5英寸全彩色高分辨率触摸屏界面，易于使用、学习和优化整体速度和效率。简洁的图标化菜单结构能够减少近50%的设置步骤，替代了繁琐的传统按键式、多层次的菜单结构。吉时利源表内建图标化的帮助功能支持直观操作。这些能力加上其多用途应用，2450型仪器具有天生的易用性，适用于基础与先进测量应用，不论您使用源测量单元（SMU）仪器的经验如何。
技术参数：
型号 | 2450 | ||
触摸屏 | 触摸屏 | ||
通道数 | 单 | ||
Max功率输出 | 20W | ||
模数转换器 | 无 | ||
I | Min | 10nA | |
Min量程精度 | 0.10%+100pA | ||
Max值 | ±1.05A | ||
V | Min量程 | 20mV | |
Min量程精度 | 0.100%+200μV | ||
Max值 | ±210V | ||
前面板输入 | 香蕉孔 | ||
后面板输入 | 三同轴 | ||
计算机接口 | USB2.0 LAN/LXI 1.4 IEEE-488 | ||
▶ 具备分析仪、曲线追踪仪和I-V系统功能，成本更低 ▶ 5英寸高分辨率电容触摸屏图形用户界面（GUI） ▶ 基本测量准确度0.012%，分辨率6½数位 ▶ 灵敏度更高，新增源/测量量程：20mV和10nA ▶ 源和阱(4象限)操作4种“Quickset” 模式，用于快速设置和测量 ▶ 内建上下文相关的前面板帮助前面板输入香蕉头输入；后面板三同轴输入连接 ▶ 2450 SCPI 和TSP® 脚本编程模式 ▶ 2400型SCPI兼容编程模式 ▶ 前面板USB端口，用于数据/编程/配置I/O | |||
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2450前面板： 2450型前面板包括基本操作台应用的HELP按键，旋转的导航/控制旋钮、前/后输入选择按扭，香蕉插孔、USB2.0存储器I/0端口。 | 2450后面板： 2450系列数字源表后面板包括内置连接便于配置多个仪器测试方案，同时避免外适配器附件的投资需求并降低测试成本。 |
2450数字源表的应用：
应用一：利用2450型源测量单元(SMU)仪器轻松实现I-V二极管特性分析。 |
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应用二：利用2450型源测量单元(SMU)仪器进行MOSFET器件检定。 |
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应用三：利用2450型源测量单元(SMU)仪器，进行生物传感器/换能器测试。 |
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利用两个2450型数字源表源测量单元仪器可以对生物场效应晶体管(BioFET)进行特性分析从而对传感器进行多种|-V特性分析包括栅极泄漏、击穿电压、阈值电压、传输特性以及漏电流 |
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