产品说明、技术参数及配置
OPA-1000在线电镀液分析仪基于元素分析的实时过程控制,检测制造铜箔过程中在线电镀液(液流)成分检测要求,最多可测试80多种化学元素,检测限从ppm水平到重量百分比(wt%)浓度。
采用先进的第四代能量色散X射线荧光(EDXRF)技术,天瑞仪器OPA1000液流及固定位置的连续卷材生产在线元素分析的潮流。本设计用于跨越从重工业到食品级生产过程测量的解决方案,天瑞仪器OPA1000可配置为用于产品分类及非分类工作领域。
OPA1000性能及优点
基于元素分析的实时过程控制
测定元素铝13AI至铀92U
从ppm水平到重量百分比(wt%)浓度
坚固耐用的天瑞近光路设计+光学内核与SDD探测器
工业级触摸屏的用户界面
易用的经验校准及常规操作
非分类应用领域的多重远程分析测量头
不使用危险的放射性同位素
成熟的技术和性能
为实现分析性能和可靠性,EDXRF测量头组件选自于天瑞仪器QC+高分辨率台式仪器。借助这种成熟的技术,天瑞OPA1000提供快速、非破坏性、多元素分析一一从百万分之一(ppm)水平到高浓度百分含量一一可分析的元素从铝(13AI)至铀(92U)。
工具液流单元设计
对于液流的元素分析,一个分析头与一个带有X射线窗口的免工具液流单元组件相配合。X射线窗口容纳了液体流,但对X射线可透射,它通常是一塑料薄膜。
涂层厚度及成分
除了分析液流,OPA1000因其多元素成分及涂层厚度测定的能力,也设计用于连续卷材的应用。测头通常安装在辊轴上的固定位置,以保证测头至样品表面的距离恒定。元素组成可直接测量,涂层厚度也可直接测量(此时,元素的计数率与厚度成正比),或通过某些基体元素的衰减以间接测量(此时,计数率与厚度成负相关)。
XRF技术
X射线荧光(XRF),电子吸收从X射线管射出的光(光子),从内层原子轨道逐出,更高能级轨道的电子跃迁以轨道,在此跃迁过程中激发出光子。因为一个特定元素每个原子的两个轨道壳层间的能量差总是相同的,发出的光子始终有一个特征能量(KeV)。对于任何的特征能量,探测到的单位时间内的光子数(每秒计数)均与液流中该元素的浓度相关。
广泛的应用范围
聚乙烯/PET制造:TPA和PTA催化剂
金属表面处理:电镀、酸洗和预处理池
采矿业:溶剂萃取
化学品:混合添加剂和树脂
造纸和塑料:释放/屏障涂层、阻燃剂、紫外线稳定剂
纺织及无纺布:阻燃剂、紫外线稳定剂
金属:转化膜,其他表面涂层
石油:润滑油添加剂及混合物
纸浆和纸:水处理
工业:废水