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泰勒霍普森、粗糙度仪DUO
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详细信息
泰勒霍普森、粗糙度仪DUO
泰勒霍普森便携式仪器SURTRONIC DUO粗糙度测量仪
型号：SURTRONIC DUO
探头系统：探头系统
表面粗糙度测量范围：199μm，40μm
扫描路径：5mm
表面粗糙度分辨率：0.01μm
阈值波长：0.8 mm
数据传输类型：USB
英国泰勒霍普森粗糙度测量装置SURTRONIC DUO，具有内部进料单元的移动粗糙度测量装置，小巧便携，通用功能，用户友好的界面，适合地板等表面粗糙度测量。
应用：
用户友好的移动粗糙度测量装置，用于参数Ra，Rz，Rp，Rv，Rt，Rz1max，R3z（戴姆勒DB N 31007），Rsk，Rq和Rku的标准粗糙度测量。
