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BN/DT-LM 铝膜测厚仪
- 型号
- BN/DT-LM
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详细信息
铝膜测厚仪型号：BN/DT-LM
铝膜测厚仪
可测量范围与量程：被测薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
测量量程 厚度90～800Å（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□
精que度： 测量准确度 厚度 ±(20Å+2%读数)
方阻 ±0.15Ω/□（在300～500Å范围）
读数重现性 10Å (同一测量点) 注：1微米＝1000纳米＝10000埃
可测量范围与量程：被测薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
测量量程 厚度90～800Å（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□
精que度： 测量准确度 厚度 ±(20Å+2%读数)
方阻 ±0.15Ω/□（在300～500Å范围）
读数重现性 10Å (同一测量点) 注：1微米＝1000纳米＝10000埃
可测量范围与量程：被测薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
测量量程 厚度90～800Å（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□
精que度： 测量准确度 厚度 ±(20Å+2%读数)
方阻 ±0.15Ω/□（在300～500Å范围）
读数重现性 10Å (同一测量点) 注：1微米＝1000纳米＝10000埃
