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LW-CAMD3-Ø30 晶圆半导体接触角测量仪
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苏州市联往检测设备有限公司为深圳市联往检测设备有限公司的分公司。公司自成立以来专注于精密力学检测设备、信赖性测试设备的研发、生产与销售，致力于称为行业里面的优异者；为客户量身定制各种检测设备，致力于成为检测设备行业里面的优质服务商！主要设备有：力学、视觉、寿命、环境、光学、试验室成套设备，非标定制检测设备等。
力学检测设备：扭力、插拔力、弹力、压力、拉力、疲劳等试验机。视觉检测设备：机器视觉检测系统，外观检测，对位检测，颜色检测分类、字符识别检测，几何测量，缺陷检测，产品OK/NG判定，机器人引导等。还有寿命测试设备，环境检测设备，光学检测设备等。
公司检测设备服务市场上各个行业：连接器接插件按键开关铰链等零部件行业、消费电子产品领域如手机手表电脑等行业、汽车零部件结构件检测行业、家用电子电器行业、以及各航天研究所学院、医疗生物等等行业。每个行业我司均有代表性客户合作，获得各行业客户好评。
公司理念：服务：对客户真诚服务，与客户共同发展。创新：我们的创新源自客户的要求与挑剔。品质：以人品带产品，以品质带品牌。科技：科学提供知识，技术提供方法
详细信息
功能概述：
晶圆半导体接触角测量仪特别订制的圆形样品台专用于晶圆（Wafer）样品的测试。通过测试液滴在晶圆样品表面形成接触角的大小，来检测其表面的洁净程度和评估表面处理的工艺效果。
晶圆接触角测量仪技术指标：
1.接触角测量 1.1.分析算法：量高法、量角法、圆环法、椭圆法、切线法、Y-L法
1.2.具有左接触角、右接触角和平均接触角分开测试和比较功能
1.3.具有凹面、凸面、弧面、超亲水、超疏水等特殊表面分析功能
1.4.具有不规则形、非轴对称本征接触角的分析功能
1.5.具有自动分析接触角变化过程的批处理测试功能
1.6.测量范围：0°～180°
1.7.测量精度：±0.1°
1.8.提供标定块，可随时对测量精度进行校准
1.9.测量分辨率：0.001°
2.张力测量 2.1.分析算法：手动法、自动法
2.2.测量范围：0.01～2000mN/m
2.3.测量精度：±0.1%
2.4.测量分辨率：0.001mN/m
3.表面能估算 3.1.估算模型：Fowkes、扩展Fowkes、Owens-Wendt、van OSS、Wu调和平均法、状态方程法
3.2.可分别得到固体表面能、色散力、极性力、氢键力、范德华分量、路易斯酸分量、路易斯碱分量等
3.3.液体数据库：预置37种常用液体表面张力及其分量数据，数据可直接调入用于表面能估算
3.4.液体库数据可自行添加、删除和修改
4.润湿性分析 4.1.通过液体的表面张力和对固体的接触角可分析该固体的润湿程度，包括粘附功、铺展系数和粘附张力
5.数据管理 5.1.通过试验模板保存试验信息、试验数据和图片
5.2.新建的试验模板保存后可重复调入使用
5.3.可对试验数据进行修改、删除和调入再分析等
5.4.试验数据可标注于图片上，并随图片一起保存
5.5.试验结果可导出至Word、Excel和PDF
6.图像拍摄 6.1.单张拍摄、连续拍摄、视频录制和图片回放
6.2.可选择采用相机外觖发功能自动拍摄
7.光学成像系统 7.1.相机：300万像素、帧率200帧/秒
7.2.镜头：0.7～4.5×连续变倍、工作距离320mm
7.3.调焦范围：±12.5mm；调焦精度：0.25mm
7.4.调焦时软件自动检测清晰度，消除人为误差
7.5.水平和俯仰调整范围：±2°
7.6.背光源：黄色LED冷光源+遮光板，亮度无极调节
8.滴液系统 8.1.滴液方式：软件控制进样器自动滴液和自动升降
8.2.最小滴液量：0.05μl/滴
8.3.滴液精度：±0.01μl
9.样品台 9.1.台面尺寸：Ø300mm
9.2.移动行程：X300×Y300×Z50mm
9.3.移动方式：软件控制样品台单点或多点自动定位+手控摇杆任意定位
9.4.样品台多点移动的运行参数可预先设置并保存，之后可重复调入使用
10.主机参数 10.1.尺寸：约W1080×D535×H600mm
10.2.重量：约95kg
10.3.电源：1∮ AC220V 50HZ
晶圆半导体接触角测量仪标准配置：
1.测控软件：1套
2.控制器：1套
3.手控摇杆：1套
4.微量进样器：2支
5.储液瓶：1个
6.接触角标定块：1块
7.水平尺：1个
8.工具：1套
