SQX分析配备先进的自动判断功能

SQX分析是利用定性分析结果进行定量分析的无标准FP分析。

・评估重元素产生的高次谱线的影响，自动选择最佳测量条件，实现更准确的SQX分析
・新增恒定角度测量设置模式，可在EZ扫描中检测微量元素
・EZ配备超高速需要不到 2 分钟测量时间的扫描模式
- 支持多层薄膜样品的筛选分析
- 任何样品薄膜都可以添加样品薄膜校正
- SQX 散射线 FP 分析（针对粉末和聚合物）现在直径为 30 毫米兼容
- 重新计算 SQX 时可以更改为 SQX 散射线 FP 分析

氦气气氛快速置换

通过在样品室和光谱室之间添加真空隔板，可以缩短更换氦气氛所需的时间。此外，通过增加液体样品保持器检测机构，将液体样品引入真空气氛中不会出现错误，并且可以放心地进行测量。

用于轻元素的气体保护正比计数器 S-PC LE

气体保护型检测器在分析过程中产生零气体排放。 探测器无需安装气瓶。

使用 WDX 系统进行点/映射分析

通过采用r-θ驱动样品台，X射线强度不会因测量点而变化，并且映射位置分辨率为100μm，可以分析印刷电路板上的布线等微小部件，各种材料中的夹杂物是。