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Simultix15 半导体设备日本理学Rigaku荧光射线分析仪
- 型号
- Simultix15
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详细信息
半导体设备日本理学Rigaku荧光射线分析仪
半导体设备日本理学Rigaku荧光射线分析仪
高通量、高精度分析
凭借高速样品传输系统、高速数据处理以及强大而稳定的X射线，可以比扫描型设备在更短的时间内进行更高精度的测量。
可同时分析多达 40 种元素
最多可测量 40 个元素（标准配置为 30 个）。测量范围从Be到U。
Simultix15 概述
双曲面水晶
这是第一台将双曲晶体整合到固定光谱仪中的同步荧光X射线光谱仪，比传统的单曲晶体具有更高的灵敏度。
人造多层累积膜“RX系列”
新开发的人工累积膜“RX85”在Be（铍）和B（硼）分析方面，与传统产品相比，灵敏度提高了30%。
衍射 (XRD) 通道
配备衍射通道，可以用一台装置进行使用X射线荧光和X射线衍射的定量分析。可对烧结矿中的 FeO（氧化铁）和水泥熟料中的游离石灰 (f.CaO) 进行定量分析。
自动真空控制机构（APC）
我们采用了高度可靠的真空系统，具有稳定轻元素分析的真空度稳定机构和防止粉末样品飞散的真空速度切换机构。
自动化兼容
可配备自动样品交换器（ASC48）。此外，通过连接全自动玻璃珠制造设备和自动压力成型机等样品预处理设备，可以实现自动化。
可配备扫描光谱仪
它可以配备可以从O（氧）测量U（铀）的重元素和轻元素扫描测角仪，或者可以从Ti（钛）测量U（铀）的重元素扫描测角仪。对于不常分析的元素的定性分析、半定量分析和定量分析非常有效。
通过定制实现多种测量
・合金化热浸锌（GA）镀层中的Fe含量分析
・钛酸钡的高精度摩尔比分析
・水泥熟料中游离石灰的定量分析
・烧结矿中FeO的定量分析
・铁矿石的定量分析
