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TFRT-300型薄膜变温电阻测试仪
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我们主要经营的产品有：
1、压电材料测试仪：ZJ-3型d33测量仪，ZJ-4型压电测试仪，ZJ-5型积层压电测试仪，ZJ-6型d33d/d31/d15型准静态系数测量仪
2、铁电测试仪：ZT-4A型铁电测试仪，ZT-4C型铁电测试仪，JKGT-G300高温铁电材料测量系统
3、介电测试仪：低温介电测试仪，高温介电测试仪，高低温介电测试仪
4、热电材料测试仪：热电效应测试仪
详细信息
TFRT-300型薄膜变温电阻测试仪
关键词：薄膜电阻，磁阻，铁磁/非铁磁/铁磁薄膜电阻
TFRT-300型薄膜变温电阻测试仪是一款多用途的电阻测试仪，即可应用于金属、半导体、导电高分子薄膜（或块材）电阻率和磁阻的测量，也可以应用于铁磁/非铁磁/铁磁三层或多层薄膜的磁电阻测量，是研究薄膜材料电阻和磁阻变化特性的重要仪器，对于先进材料应用和开发有着重要意义。
一、特点:
1.采用专用高精度电阻测试仪和温度测试仪以及四端测量法减小接触电阻对测量的影响，测量材料电阻R随温度T的变化；
2.采用Helmholtz线圈提供均匀的磁场，用它可以产生极微弱的磁场直至数百Gs的磁场。用四端法测量样品电阻随温度的变化，可减小接触电阻对测量的影响，提高测量精度；
3.采用氮气保护，可连续测量样品在150K~600K范围内电阻随温度的变化，可拓展到1800℃；
4.采用流行的USB2.0接口与计算机相连，数据采集迅速准确；
5.用户界面直观友好，方便用户使用。
二、应用:
1.金属、半导体、导电高分子薄膜（或块材）电阻率和磁阻的测量
2.金属薄膜材料的电阻率，磁阻的测量（较大厚度0.2mm）
3.金属块体材料电阻率的测量（较大厚度3mm）
4.磁性合金薄膜的磁电阻测量
5.铁磁/非铁磁/铁磁三层或多层薄膜的磁电阻测量
6.自旋阀型巨磁电阻薄膜、隧道结型磁电阻薄膜的磁电阻测量
三、主要技术参数：
型号 | TFRT-300A | TFRT-300B | TFRT-300C |
温度范围 | 150K~600K | RT~1200 ℃ | RT~1800 ℃ |
磁场 | 0~1.3T（匹配） | ||
电阻测量范围 | 1μΩ~3MΩ，准确度：± 0.1％FS | ||
温度测量精度 | 热电阻0.1%±0.1℃；热电偶0.5%±0.5℃ | ||
恒流源 | 1μA~1A，准确度：± 0.1％FS（FS为满量程值） | ||
供电电源 | 220 V AC | ||
额定功率 | < 2000W | ||
注意事项 | 温度和电阻测量范围等可按需求定制，请咨询技术人员 | ||
