一种工业标准LCR仪表

Keysight E4980A 精密型 LCR 表为各种元器件测量提供了精度、速度和多功能性的最佳组合。E4980A 在低阻抗和高阻抗范围内都能提供快速的测量速度和出色的性能，是元器件和材料的一般研发和制造测试的zhong极工具。

测量速度快

E4980A提供出色的速度:

- 5.6 毫秒（短暂） 2

- 88 毫秒 （MED） 2

- 220 毫秒（长） 2

精确的测量

在低阻抗和高阻抗下具有极低的噪声，用于评估电感器的特性和

电容器具有优异的精度和重复性。

-0.05%基本阻抗精度

- 1/2/4米电缆延伸能力

- 打开/关闭/负载校正

主要特性

精确的测量

在低阻抗和高阻抗下均具有极低的噪声，以提高测试质量。

-0.05%基本阻抗精度

- 开放/短缺/负载补偿支持

-电缆延伸部分（1/2/4米）支承

测量速度快

快速的速度提供了更多的吞吐量，降低了测试成本。

- 5.6 毫秒（短暂）

- 88 毫秒（MED）

- 220 毫秒（长）

测量通用性

-测试频率为20赫兹至2 MHz，可在任意频率下使用4位分辨率

—16个阻抗参数

-100μV至2 Vr ms,1μA至20 mA-可变测试信号

-自动水平控制

- 可编程列表chou奖201分

选项E4980A-001功率和直流偏置增强

- 0至20伏特/100毫米臂测试信号

-内置40伏直流偏置，分辨率为0.3毫伏

-内置10伏直流电源

-直流电阻、直流电流及直流电压测量能力

高精度、快速测量，最高可达2 MHz

精确的测量结果为设计和测试提供了可靠性

广域阻抗测量

E4980A LCR测量仪在所有阻抗测量中均具有出色的性能。要满足当今最新设备的测试要求，需要可靠的测量性能。只有E4980A能够在“同时”低阻抗和高阻抗范围内提供快速的测量速度和出色的性能，并具有出色的耗散因数精度。

稳定的小ESR/低阻抗测量

电容器的等效串联电阻（ESR）正变得越来越小，以满足高速和低功耗电路的需要；而且测量困难，E4980A提供了出色的测量稳定性。

极其精确的高阻抗测量

芯片电容和半导体芯片的电容值现在已降至fF（fF）范围。因此，需要非常稳定和精确的高阻抗测量，以提高收率和设计可靠性。E4980A超越Keysight之前的行业标准LCR测量仪（4284A），进一步提高了这些小电容器件的测量稳定性。

提供业界最佳的速度和准确性组合

快速的测量速度，提高制造业的吞吐量

- 在1 MHz时，在短模式下，每点5.6毫秒

- 在1 MHz时，在MED模式下每点88毫秒

- 在1 MHz时，在长模式下每点220 ms

平均函数（最高可达999）

使用户能够提高测量的重复性。

多功能测量功能，满足您的应用需求

强大的功能提高了测试的可靠性和效率

六种便捷的显示模式

选择六种显示模式之一，以满足您的特殊测量需求。

-数据概览的正常视图

-大显示视图，提高可读性

- BIN 编号视图，用于测量比较和设备分类

- BIN计数视图，用于统计评估

- 列表扫描视图以查看连续数据

- 空白页面视图，实现ji致速度

（关闭显示以节省刷新时间。）

201分名单大获全胜

频率、测量范围和刺激条件，可设置为列表参数（最大201点），可独立选择两个参数在多种测量条件下进行测试。

直流电阻测量

对于电感测量，可以同时测量Ls或Lp和RDC参数。

E4980A功率和直流偏置增强

（备选E4980A-001）

20 VRMS测试信号（Opt.001）

强大的交流测试信号可提供高达20 Vrms，100 mArms（最大值）。这使您无需外部放大器即可评估交流电平依赖性。直流参数测量（Opt.001）

同时测量直流电压和直流电流以及阻抗。泄漏电流测量可用于电容评估。

40伏直流偏置（选件001）

内置的宽范围（±40 Vdc/100 mA）直流偏置源可实现对直流偏压与阻抗的精确评估。

直流电源（选件001）

提供额外的独立DC源端口，以扩展DC控制和偏置应用的灵活性。例如，此选项可测量三个终端设备，使您可以同时控制您的DUT、添加额外偏置并控制其他设备。

阻抗测量数据可帮助工程师设计需要特定电阻、电容和电感值才能实现最佳性能的电路和系统。为了最大限度地传输功率并减少射频（RF）设备中的反射，工程师必须使RF链中的每个组件的阻抗匹配。

什么是电阻抗？

工程师使用阻抗测量来表征电子电路、元件和材料。在射频应用中，工程师通常定义阻抗（Z），在矢量平面上以复数表示，作为设备或电路在给定频率下对交流电（AC）流的总阻抗。工程师根据所需的测试频率、阻抗参数和优选的显示参数选择特定的阻抗测量技术。

本应用说明展示了参考解决方案，其中包括目前可用的产品和已停产和/或过时的产品，以利用Keysight的阻抗测量专长满足特定应用要求。无论您从事何种应用或行业——从电路设计和信号完整性到制造或生物医学应用——Keysight均可提供zhuo越的性能和高可靠性，让您在进行阻抗测量时充满信心。

本文从阻抗测量的基础知识开始，首先定义了阻抗和阻抗参数、阻抗测量的基础知识以及无源元件的理论和自然行为——包括寄生和理想、实际和测量值。

阻抗矢量由实部（电阻，R）和虚部（反应性，X）组成。我们用矩形坐标形式R+jX或极坐标形式表示阻抗的幅值和相位角：|Z|_θ。在某些情况下，使用阻抗的反比证明在数学上是有利的。因此，1/Z=1/（R+ jX) =Y=G+jB，其中Y表示导入、G导和B受力。阻抗测量用欧姆（）为单位，而导纳测量用西门子（S）。阻抗被证明特别有用，用R和X的简单和来表示电阻和电抗的串联连接。导通率更好地表示并行连接。

反应性有两种形式:电感（XL）和电容（Xc）。根据定义，XL=2πfL和Xc=1/（2πfC），其中f表示感兴趣的频率，L表示电感和C电容。用角频率（ω：ω）替换2πf来表示XL=ωL和Xc=1/（ωC）。类似的对等关系也适用于接受和接纳。

根据这些定义，应用说明扩展了组件依赖因素（如测试、测试信号电平、直流偏置和温度）以及常见组件（如电容和电感）的等效电路模型。

如何测量阻抗？

在定义了术语和阻抗参数之间的关系之后，本文介绍了阻抗测量的基本原理。考虑到阻抗的复杂性质，要找到阻抗，我们至少需要测量两个值。许多现代阻抗测量仪器测量阻抗矢量的实部和虚部，然后将它们转换成所需的参数，如|Z|、θ、|Y|、R、X、G、B、C和L。

本文详细介绍了阻抗测量电路模式、测试仪器、三元件等效电路和复杂元件模型以及常用的测量方法，包括：

• 桥梁阻抗测量

• 共振阻抗测量

• I-V阻抗测量

• 射频I-V阻抗测量

• 网络分析测量

• 自动平衡桥阻抗测量

桥式阻抗测量方法在标准实验室中很常见，它以较低的成本提供较高的精度。然而，桥式阻抵抗测量需要手动平衡，并且只提供较窄的频率覆盖范围，只能使用单台仪器。

谐振阻抗测量在高Q值时具有良好的Q值精度，但需要调谐才能实现谐振，而谐振阻值测量方法也存在阻抗测量精度低的问题。

I-V阻抗测量可实现对接地器件的测量并兼容探针式测试需求。因此，使用接地器件中的开发人员更喜欢这种方法。然而，使用I-V阻值测量方法时，探针变压器限制了工作频率范围。

射频I-V、网络分析和自动平衡桥阻抗测量方法最shi合从事射频元件表征的工程师。射频I-V阻抗测量在高频下具有高精度和宽阻抗范围（m至M）。不过，与I-V阻抗测量方法一样，测试头中使用的变压器限制了工作频率范围。

网络分析阻抗测量方法涵盖了从低频（LF）到射频的频率范围，并且在未知阻抗出现在特征阻抗附近时具有良好的精度。不幸的是，网络分析仪在改变测量频率后需要重新校准，并且只允许狭窄的阻抗测量范围。

自动平衡电桥阻抗测量提供从低频到高频（HF）的广泛频率覆盖范围，同时在宽阻抗测量范围（m到100M的量级）上保持极其高的精度。它们还能够像I-V方法一样进行接地器件测量，但缺乏对高频范围测试的支持。

用什么仪器测量阻抗？

本文进一步探讨了射频 I-V 阻抗测量、网络分析和自动平衡电桥阻抗测量背后的理论，特别是考虑到它们与 Keysight 各种解决方案的相关性，包括电容计、LCR 计、阻抗分析仪和网络分析仪。

LCR计和阻抗分析仪主要在显示特性上有所不同。LCR计显示数字数据，而阻抗分析仪器显示数字或图形格式的数据。另外，标准的VNA提供从测量的S参数数据计算阻抗的功能，尽管Keysight ENA系列网络分析仪支持在单一平台上进行阻抗和网络分析的各种应用。

我们对阻抗测量解决方案的讨论包括:电阻图、实用仪器的运行原理、关键测量功能、固定和布线以及测量误差补偿。

阻抗测量的系统配置是什么？

通常，用于阻抗测量的系统使用以下组件:

1. 阻抗测量仪

2. 电缆和适配器接口

3. 试验夹具

最后，本应用说明最后提出了各种应用中阻抗测量增强的建议，包括:

• 电容器

• 电感器

• 变压器

• 二极管

• MOSFETs

• 电池

阅读本手册，以找到满足阻抗测量需求的最佳测量方法和仪器。