100GE手持式网络测试平台

VIAVI MTS5800-100G ,100GE 的手持式模块化网络测试平台

MTS-5800-100G 手持式网络测试仪是网络技术人员和工程师在安装和维护其网络时所必需的工具。它支持传统和新兴技术，可满足包括城域网/核心网络、数据中心互连在内的网络应用需求，以及商业服务测试应用需求。

100GE手持式网络测试平台

产品介绍；
型 号：MTS5800-100G
名 称：MTS5800-100G 手持式100G网络测试仪
产品简介：MTS5800-100G手持式网络测试仪是网络技术人员和工程师在安装和维护其网络时所必需的一种工具。它支持传统和新兴技术，可满足包括城域网 核心网络、数据中心互连在内的网络应用需求，以及企业服务测试应用需求。
详细信息：
 ——全功能手持式网络测试和光纤测试
   美国VIAVI   MTS5800-100G手持式网络测试仪是网络技术人员和工程师在安装和维护其网络时所必需的一种工具。它支持传统和新兴技术，可满足包括城域网/核心网络、数据中心互连在内的网络应用需求，以及企业服务测试应用需求。
      本产品是业界最小巧的手持式双端口 100G 测试仪，可在网络服务生命周期的各个阶段进行测试，包括光纤测试、服务激活、故障排除以及维护。5800-100G 测试仪采用包括 SFP/SFP+/SFP28 和 QSFP+/QSFP28/CFP4 在内R的接口，能够实现管理网络增长所的投资保护，同时又能保持较高的客户满意度。借助诸如光学器件自检、以太网线路速率抓包/解码以及 OTN 检查等高级测试功能，技术人员现在能比以前更快、更准确地测试他们的网络。

主要优势
 使用全功能双 100G 手持式设备简化多技术测试
 拥有多触点屏幕、脚本化工作流和清晰的通过/失败结果呈现，更加便于现场使用
 通过流程化和可重复性，使操作更高效
 加快光纤测试、以太网业务开通和故障排除测试的速度
主要特点
 支持从 DSx/PDH （1.5M/2M） 直至 112G OTU4 的全面速率测试。
 借助业界最快的 RFC 2544和Y.1564 SAMComplete? 以太网业务开通测试（包括纳秒级精度延迟测量），从而节省时间。还支持 RFC6349 TrueSpeed。
 通过现场优化光学器件自检，确保 QSFP+/QSFP28 和 CFP4 模块无误运行。
 借助 OTN 检查工作流自动化脚本，实现高速高效的OTN业务激活测试。
 支持 Viavi 具有智能链路（SmartLink）4100系列OTDR和COSA模块。
 测试同步和定时，使用TEM定时模块。
应用
 数据中心及核心网/城域网中10Mbps至100G接口处的融合以太网/IP网络测试及故障排除。
 光纤链路特征分析和故障排除。
 OTN 以及传统 SONET/SDH 和 DSx/PDH 网络的安装和维护。
  移动和回传特征分析、验证及故障排除（包括同步）。5G就绪。
 
全功能手持式工具
      可配置的 MTS5800-100G 是业界体积最小的双端口100G手持式测试仪。它可对诸如以太网、SONET/SDH、OTN、光纤通道和CPRI/OBSAI等各种各样的接口进行测试。
 外形紧凑，轻松便携：17.8 x 24.1 x 8 厘米
 7 英寸超大多点触控电容显示屏
 类似于平板电脑的界面，使您可以轻松地在测试信息和高级工作流程之间导航
 集成的 WiFi 和蓝牙功能，使您能轻松地连接测试仪表并卸载结果
 支持 SmartAccess Anywhere，可轻松通过 Android 设备或 PC 连接
 支持基于云的 StrataSync?，可实现资产管理和结果数据管理
 
与 Viavi Solutions 光纤测试工具兼容
  城域网/长距离、企业服务和数据中心技术人员现在能够使用一台手持式仪器，测试网络中的几乎任何接口以及检测光纤设备。MTS-5800-100G与以下设备和软件兼容：
 用于连接器端面检测和分析的P5000i光纤显微镜
 用于光功率和损耗测量的MP系列光功率计
 OTDR模块，支持光纤链路特征分析和故障查找智能链接图功能，光学分析软件可在一个简单的图标式视图中显示OTDR结果，对检测到的问题进行清晰的诊断
 COSA（一种CWDM光谱分析仪）
 
经过优化，可在现场轻松使用
 固定的测试接口，不会出现可插拔模块的松动现象
 LED 指示要测试的接口位置
 简化的用户界面，通过绿色或红色直观呈现“通过/失败”的结果
 延长的电池续航时间，使您能够进行更长时间的测试并下载报告
 快速启动以开始测试
 双端口操作可同时运行两个测试，包括两个100G/高速测试
 可通过扩展模块TEM（定时扩展模块）为网络提供频率同步和时间同步
 
通过光学器件自检排除故障
      光学器件自检是一种工作流程工具，用于验证和排除与高速光学器件相关的性能问题。它特别适合于现场环境的测试，并可帮助排查可插拔光学器件问题。这种易于使用的测试集成了比特误码理论算法、时钟偏移验证和每波长功率监测等诸多功能。与 RS-FEC 配合使用时，它可进行纠错前误码率和纠错后误码率测试。