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增骏XAD-200膜厚仪 X射线荧光测厚仪
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代理商上海增骏实业有限公司专业代理销售存储记录仪,温度记录仪,数据采集器,波形记录仪,数字示波器,直流稳压电源,LCR测试,电阻测试仪,功率计,风速仪,电子负载,等各种工业检测仪器。提供仪器销售和技术支持。
增骏XAD-200膜厚仪 X射线荧光测厚仪介绍:
增骏XAD-200膜厚仪 X射线荧光测厚仪是一款全元素上照式荧光光谱仪,既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能,又可满足RoHS有害元素检测及成分分析,搭载全自动平台实现XYZ轴编程位移,实现无人值守多点测量,测量软件置入先进的EFP算法及解谱技术,解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
增骏XAD-200膜厚仪/腊厚分析仪器产品特点:
核心EFP算法,可对多层多元素,包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精准检测第一层Ni和第三层Ni的厚度)
配备全自动可编程移动平台,可实现无人值守,对成百上千个样品进行全自动检测
涂镀层分析范围:锂Li(3)- 铀U(92)
成分分析范围:铝Al(13)- 铀U(92)
RoHS、卤素有害元素检测
人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作
标配四准直器自动切换
配有微光聚集技术,最近测距光斑扩散度小于10%