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SDW-TCH-360S型 SDW-TCH-360S 高精度涂层测厚仪
高级会员第6年
生产厂家
北京斯达沃科技有限公司(以下简称“斯达沃”)依托北分仪器厂技术为支持,和附近各大科研单位建立紧密战略合作关系,公司研发中心针对目前行业动态需求,制订研发战略进行技术预研、技术研发、技术创新,以适应当前的行业发展需要,坚持与时俱进,自主创新研发,研制了完整的油品分析仪器、水质分析仪器、气体分析等三维实验室,其中“全自动开口闪点测定仪”“全自动微量水分测定仪” “全自动运动粘度测定仪” “ 台式油液颗粒计数器”“便携式油液颗粒计数器”“便携式精密棱镜露点仪”“ 硅磷铜铁联氨浊度分析仪系列” “便携式溶解氧分析仪”“紫外/可见分光光度计”等多种仪器,在国内的电厂、石油石化、化工厂、钢铁厂、检测单位等用户里有良好的应用合作关系。持续为我国核工业、化工厂、污水处理厂、环境监测站、放射性管理部门、应急响应、国土安全、科研机构、高校、工业厂矿、高xin技术企业等众多的领域和部门提供高质量、高性能的产品的技术支持与服务。
与此同时,公司为了满足客户水分析,油分析,气分析等方面个性化市场需求,公司代理经销英国Partech、英国百灵达、美国HF水工业、美国哈希、德国WTW、德国罗维邦、英国杰普仪器、意大利哈纳分析仪、瑞士斯旺、E+H等水质分析仪;日本京都电子、日本田中科学等油分析仪器;美国pss激光粒度分析仪、德国柯雷水分仪和核辐射分析仪;美国华瑞气体检测仪、美国霍尼韦尔气体检测仪、北川气体检测管、美国英思科气体检测仪、英国凯恩烟气分析仪、英国ppm甲醛检测仪等国外分析仪器。为我国能源清洁高效利用、污水污泥处理、固废处理、废气治理、环境修复等领域提供技术设备支持,为众多客户提供了环境保护与资源再生利用工程的技术支持,公司全体员工精诚团结、不断创新,为推动国家青山绿水环保型经济发展而努力奋斗!
技术参数:
测量范围 | 0~1250μm (F1、 F1/90°、N1测头);,F10测头可达10mm |
探头选择 | F1 N1 F10 F1/90°多种测头可选择 |
分 辨 率 | 0.1μm (F1、N1、F1/90°测头) |
示值精度 | ±(2%H+1) μm; H为被测涂层厚度 |
显示方法 | 128*64点阵液晶LCD |
存储容量 | 可存储5组(每组可达100个测量值)测量数据 |
单 位 制 | 公制(μm)、英制(mil),可自由转换 |
工作电压 | 3V(2节5号碱性电池) |
持续工作时间 | 大于200小时(不开背光时) |
通讯功能 | USB通讯接口,可与PC机连接、通讯 |
外形尺寸 | 125mm×67mm×31 mm |
整机重量 |
340g
|
功能特点:
1、自动识别探头
2、有多种测头类型可供选择,通过选择相应的测头,既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度,又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;
3、可选择使用多种测头(F1、N1、F10、F1/90°);
4、两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
5、两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B);
6、设有五个统计量:平均值(MEAN)、大值(MAX)、小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)
7、测头接触部件镀硬铬或为红宝石,经久耐用;
8、可设定上下限值,测量结果大于等于上下限数值时,仪器会发出相应声音或闪烁灯提示。
9、通过屏显或蜂鸣声对错误进行提示
10、具有测头零点校准、一点校准、两点校准功能, 并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
11、可选择配备微机软件,具有传输测量结果、测值存储管理、测值统计分析、打印测值报告等丰富功能;
12、采用铝制外壳,小巧便携 坚实耐用,适用于恶劣的操作环境,具有较强的抗振动、冲击和抗电磁干扰;
四、配置表:
主机 | 1台 | 标准配置 |
F1 测头 | 1个 | |
校准片 | 5片 | |
铁基基片 | 1片 | |
电池 | 2节 | |
说明书 | 1本 | |
保修卡 合格证 | 1张 | |
螺丝刀 | 1把 | |
数据软件(赠送) | 1套 | |
专用仪器箱 | 1个 | |
N1 测头 | 可选配置 | |
F10 测头 | ||
F1/90°测头 | ||
非铁基基片 | ||
校准片 |
附 选配测头图片及技术参数:
附 测头技术参数表:
测头型号 | F1 | F1/90° | F10 | N1 | ||
工作原理 | 磁 感 应 | 涡 流 | ||||
基体 | 铁、钢等磁性金属 | 非磁性金属基体 | ||||
覆盖层 | 有机材料等非磁性覆盖层 | 非导电覆盖层 | ||||
(如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等) | (如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等) | |||||
测量范 (mm) | 0~1250 | 0~10000 | 0~1250 | |||
低限分辨力(mm) | 0.1 | 10 | 0.1 | |||
示值 | 一点校准(mm) | ±(3%H+1) | ±(3%H+10) | ±(3%H+1.5) | ||
二点校准(mm) | ±((1~3)%H+1) | ±((1~3)%H+10) | ±[(1~3)%H+1.5] | |||
测试 | 小曲率半径(mm) | 1.5 | 平直 | 10 | 3 | |
小面积的直径(mm) | F7 | F40 | F5 | |||
基体临界厚度(mm) | 0.5 | 2 | 0.3 |