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PZ-WLI-150 白光干涉3D形貌测量仪
- 型号
- PZ-WLI-150
北京品智创思精密仪器有限公司(以下简称品智创思)，始终专注于精密影像测量领域的影像分析及测量软件的设计与研发。品智创思公司从事表面科学、分析仪器、计量检测设备及实验室仪器系统集成商;致力于为工业制造和科研领域用户提供显微分析，图像分析，缺陷识别和检验, 无损探查, 品质管理, 计量，过程控制等专业检测设备，依托强有力的技术资源及完善专业的售后服务与维修体系，向用户提供专业成熟细致的服务及全面地解决方案。
公司致力于提高工业产品的质量品质! 迄今为止，品智创思已为多家用户提供产品检测设备，用户遍布机械、电子、医疗、轨道交通、汽车、航空、航天、研究所、计量站、等行业，为用户提供的仪器和完善的解决方案，为用户工作提供强有力的技术支持。
品智创思秉承“专注质量、诚信服务、立足创新、真诚合作”的理念，为您提供、多角度的服务。
北京品智创思精密仪器有限公司愿与您精诚合作，共拓美好未来。
详细信息
产品简介：
白光干涉3D形貌测量仪结合相移垂直扫描的前沿技术与显微光干涉技术，不需要复杂光路调整程序，即可在非接触、无破坏、普通大气环境下完成3D纳米深度的表面检测分析不仅提供3D表面形状和表面纹理的分析，更可提供镜面表面的纳米级粗糙度和台阶高度分析
并追溯至IS0国际规范。白光干涉3D形貌测量仪具有的测量能力，可在几秒内就完成整个视场的扫描得到测量样品的3D图形与高度数据，检测速度与深度量测能力优于逐点逐面扫描的共焦扫描显微镜，3D图形量测能力又优于扫描式电子显微镜的2D平面检测能力，且不需要使用电子束或雷射，开机快又安全，维护成本更低。
无论是抛光面，还是粗糙面，甚至是高透明材质(例如石英),只要有超过1%以上的反射率就能够被检测。适合各种材料与微元件表面特征和微尺寸检测，应用领域包含:触控面板(Touch Panel)
太阳能板(Solar Cell)
晶圆(Silicon Wafer or Sapphire Wafer)
光碟/硬碟( DVD Disk /Hard Disk)
微机电元件(MEMSComponents)
平面液晶显示器(LCD)
高密度线路印刷电路板(HDIPCB)
IC封装(IC Package)
精密微机械元件或模具(Micro MechanicalPartsorMode)以及其它材料分析与元件微表面研究。
