● 高速测量2ms ● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能
● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
- ¥881台起订
参考价：
起订量：
3504-40 C测试仪
- 型号
- 3504-40
- 参数
- 应用领域:综合
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详细信息
C测试仪 3504-40
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 测试源频率: 120Hz, 1kHz 高速测量: 2ms RS-232C
概要
规格
选件
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PC 通讯器
2m长
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打印机
数码打印
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查看详情>>适用于9442, 线长:1.5 m
查看详情>>112mm x 25m, 10卷/盒
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测试冶具或电缆
用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5
查看详情>>用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm
查看详情>>直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
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查看详情>>电缆连接型, DC ～ 5 MHz, 1m长
查看详情>>线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm
查看详情>>DC～100kHz, 1m长
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最shi用于分拣·检查的电容测试仪电容测试仪 3506-10 ·模拟测量时间0.5ms(1MHz)的高速测量·抗干扰性提高，微小电容的反复精度大幅提高·使用1MHz稳定测量低容量电容电容测试仪 3504-60,3504-50,3504-40 · 模拟测量时间1ms(1kHz)可测量定电压，最shi用于测量高容量MLCC ·可测量高达1.45mF的高容量定电压(120Hz，500mV时) ·3504-60可进行4端子接触检查。
3506-10, 3504-60, 3504-50, 3504-40共通优点共通优点
■对应JIS C 5101-1的电容测试仪3506~3504的测量频率电容的种类去除电解电容的电容容量范围C C≤1000pF 1000pF＜C≤10µF测量频率[Hz]
●记号为推荐频率1M对应机型
● 3506-10 1k ● 120 10µF＜C电解电容
■ BIN功能---C测量根据测量值最多分类为14个等级※1，易于进行分拣等。※1 3506,3505最多为13个等级。3504-40无BIN功能。
● 120 ○
■ 只需选择的简单操作&LED显示3504-60 3504-50 3504-40 3511-50 (参考)只需从面板标记项目中进行选择，操作简单。设定好的测量条件会点亮，能够一目了然把握设定条件。
■ 比较器功能第一参数(C)、第2参数(D)可各自设置上下限值。判定结果可进行蜂鸣、LED显示以及外部输出，设定值始终显示。
■ 存储功能测量数据可保存在主机。可通过GP-IB，RS-232C读出。 3506-10 ......................................1,000个 3504-60, 3504-50, 3504-40 ......32,000个
■ 触发同步输出功能施加触发后输出测量信号，仅在测量时将信号施加到被测物上。因为是在接触被测物时流过大电流，因此能够减少接点的损耗。
■可存储99※2组测量条件最多可保存99组测量条件，可迅速对应在重复测量较多的产线上切换被测物的情况。可利用EXT I/O读出任意测量条件。※2 3506-10最多为70组。
■标配接触检查功能可检测出测量过程中的接触错误。可另外管理有过接触错误的样品，对提高成品率做出贡献。
