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HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪
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详细信息
SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具，如颗粒粒径、zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定；还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。
SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。
产品特点
· 同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数
· 宽检测范围，宽浓度范围——样品浓度可达40%
· 自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定
· 软件操作简单功能强大，一键测量
· 双光路双角度粒径测量（90° 和173°）
· 采用微量样品池
技术参数
粒径测量原理：动态光散射法（光子相关光谱法）
粒径测定范围：0.3nm ～10μm
粒径测量精度：±2%（NIST 可溯源标准粒子100nm）
Zeta 电位测量原理：激光多普勒电泳法
Zeta 电位测量范围：-500 mV ～ +500 mV
分子量测量原理：Debye plot
分子量测量范围：1000 ～ 2×107 Da
测量角度：90° 和173°（可自动或手动选择）
样品量：12μL ～ 1000μL
