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EDX-A80 射线荧光光谱仪
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详细信息
结构：由光源、激发光源、发射光源、试样池、检测器、显示装置等组成
主要用途：
仪器较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm.
应用领域
荧光光谱仪被广泛应用于化学、环境和生物化学领域。是研究小分子与核酸相互作用的主要手段。通过药物与核酸相互作用，使DNA与探针键合的程度减小，反映在探针荧光光谱的改变，从而可以了解药物和核酸的作用机理。
荧光光谱仪是研究药物与蛋白质相互作用的常用仪器。药物与蛋白质相互作用后可能引起药物自身荧光光谱和蛋白质自身荧光(内源荧光)光谱以及同步荧光光谱的变化，如荧光强度和偏振度的改变、新荧光峰的出现等，这些均可以提供药物与蛋白质结合的信息。
发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW 2.仪器在真空条件下工作，真空度<13pascals 3.5块分析晶体，可以分析元素周期表F～U之间所有元素，含量范围是ppm～100% 4.分析软件是Philips公司（现为PANalytical）最新版软件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在计算率N=1483870时， RSD=0.08% 稳定性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对**为0.03%
结构：由光源、激发光源、发射光源、试样池、检测器、显示装置等组成
主要用途：
2.同步荧光（波长和能量）扫描光谱
3.3D（Ex Em Intensity）
4.Time Base和CWA（固定波长单点测量）
5.荧光寿命测量，包括寿命分辨及时间分辨
6.计算机采集光谱数据和处理数据（Datamax和Gram32）
仪器较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm.
应用领域
荧光光谱仪被广泛应用于化学、环境和生物化学领域。是研究小分子与核酸相互作用的主要手段。通过药物与核酸相互作用，使DNA与探针键合的程度减小，反映在探针荧光光谱的改变，从而可以了解药物和核酸的作用机理。
荧光光谱仪是研究药物与蛋白质相互作用的常用仪器。药物与蛋白质相互作用后可能引起药物自身荧光光谱和蛋白质自身荧光(内源荧光)光谱以及同步荧光光谱的变化，如荧光强度和偏振度的改变、新荧光峰的出现等，这些均可以提供药物与蛋白质结合的信息。
发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW 2.仪器在真空条件下工作，真空度<13pascals 3.5块分析晶体，可以分析元素周期表F～U之间所有元素，含量范围是ppm～100% 4.分析软件是Philips公司（现为PANalytical）最新版软件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在计算率N=1483870时， RSD=0.08% 稳定性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对**为0.03%
