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美国Dakota NDT CMX 腐蚀超声波测厚仪
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测仪科技供应产品有测厚仪、探伤仪、粗糙度仪、硬度计、测振仪、风速仪、气体检测仪、尘埃粒子计数器、浮游菌检测仪、温湿度表、露点仪、噪音计、酸度计、多参数水质分析仪、浊度仪、溶解氧测定仪、电导率仪、钳形表、万用表、LCR测试仪、电阻测试仪、电能质量分析仪、微电阻计、相序表、色差仪、亮度计、照度计、光功率计、光源，熔接机，附着力测试仪、频闪仪、内窥镜等精密检测仪器
测仪科技重信用、守合同、保证产品质量，公司将始终坚持以客户为中心“以质量求生存、以信誉求发展、以服务求永恒”
详细信息
美国Dakota NDT CMX 腐蚀超声波测厚仪系列易于使用，为检查人员提供同时测量材料和涂层厚度所需的所有功能。
聪明的
用户可定义通过/失败指示的限制
通过声音和视觉警告，为单个读数或每批的通过/失败指示设置限制。
强大的
存储每个测量值以供进一步分析
每次测量时，仪器内存中最多可保存 4GB 读数，稍后可将其下载到检测应用程序或 DakMaster ™软件中以进行进一步分析和报告。
多才多艺的
能够测量涂层和材料厚度
Dakota CMX 超声波测厚仪能够同时测量涂层和材料厚度，同时保持定位材料中的凹坑、瑕疵和缺陷的能力。
可定制
选择并自定义阅读显示
Dakota NDT CMX 测厚仪系列有多种显示模式可供选择，允许用户选择适合自己需求的模式； Dakota CMX2-DL 腐蚀测厚仪和 Dakota CMX3-DL 腐蚀测厚仪上的读数、B 扫描、B 扫描与读数、扫描条和 A 扫描相结合。
Dakota NDT CMX 腐蚀超声波测厚仪概括：
Dakota NDT CMX 超声波腐蚀测厚仪有四种型号 - 从入门级 Dakota CMX1 超声波测厚仪到顶级 Dakota CMX3-DL 超声波测厚仪。
显示和测量选项范围：脉冲回波、回波-回波、脉冲-回波温度、补偿模式 (PETP)、仅涂层模式 (CT)、脉冲回波涂层模式 (PECT)
手动或自动增益控制 (AGC)，可调范围 110dB
门控
阈值调整
64 个用户定义的设置
多语言显示
多种校准和材料选择选项
高速扫描模式：每秒 250 个读数（Dakota CMX1 超声波测厚仪和 Dakota CMX1-DL 超声波测厚仪），每秒 50 个读数（Dakota CMX2-DL 超声波测厚仪和 Dakota CMX3-DL 超声波测厚仪）
A 扫描纵向和横向视图（仅限 Dakota CMX3-DL 超声波测厚仪）
差异和最小厚度报警模式
数据输出和存储：4GB内存
下载 DakMaster ™数据管理软件
Dakota CMX 腐蚀超声波测厚仪主要特点：
Dakota CMX 功能解释
重复性/稳定性指示器
由6个垂直条组成，当所有条都照亮并且数字厚度值的最后一位稳定时，仪表可以可靠地测量材料厚度。
差模
一旦设置了用户定义的标称厚度值，仪表将显示与输入的标称值的+/-厚度差。
具有最小厚度显示的高速扫描
通过显着提高测量刷新率，该模式允许用户对测试材料进行扫描。最小厚度值保存在内存中，并在扫描完成时显示。此功能还可以与最小和最大限制报警功能结合使用（取决于型号）。
极限报警方式
用户可以定义最小和最大厚度限制。如果测量值超出上限或下限，红色 LED 将会亮起，并且蜂鸣器会发出声音。绿色 LED 将亮起，表示厚度可接受。
V 路径校正
双元件传感器由带有两个晶体的探头组成（一个用于发射，一个用于接收声音脉冲）。这些晶体被声屏障隔开，当声音从一个元件传播到另一个元件时，会产生“V 形”声音路径。该路径比直接路径稍长，因此使用 V 路径校正来计算正确的厚度
测量模式解释
脉冲-回波模式 (PE)：
正常显示模式测量从传感器探头底部到材料密度边界（通常是后壁）的总厚度。非常适合凹坑和缺陷检测。
脉冲 - 回波温度补偿模式 (PETP)：
与 PE 模式类似，PETP 会考虑并补偿由温度变化引起的测量变化。
仅涂层模式 (CT)：
显示应用于材料的涂层厚度。
基本缺陷模式（FLAW MODE）：
CMX2-DL 和 CMX3-DL 腐蚀测厚仪可使用单元件角束传感器进行基本的探伤探伤检测。
回声 - 回声模式 (EE)：
EE 也称为 ThruPaint™ 模式，忽略涂层厚度，显示从材料顶面到材料密度边界的材料厚度。
回波 - 回波验证模式 (EEV)：
回波-回波验证模式通过比较 3 次反射之间的值进行测量，通常用于消除表面涂层的误差以及在多层材料中进行测量。
脉冲-回波涂层模式 (PECT)：
同时显示材料厚度（PE）和涂层厚度（CT）。
显示模式解释
材料厚度数字显示：
所有型号上的标准显示屏，以毫米 (MM) 或英寸 (IN) 为单位显示数字厚度值。
扫描条显示：
线性图形显示器允许用户以图形方式监控厚度读数的变化。由于用户可以调整刻度范围，因此该显示器非常适合观察材料厚度的微小变化。
B 扫描显示：
基于时间的厚度横截面 2D 框图提供了材料厚度的图形视图 - 非常适合相对深度分析。
A 扫描显示；全波（射频）： *
A 扫描显示屏显示由被测材料反射的声音或振动产生的正弦波。在 RF 模式下，显示完整波形。
A 扫描显示；纠正（+或-）： *
用户可以选择查看完整波形 (RF) 的正周期或负周期。该校正 (RECT) 显示显示回波幅度与传播时间的关系。
* 仅适用于 CMX2-DL 和 CMX3-DL 测厚仪型号
技术参数：
模型 | CMX1 | CMX1-DL | CMX2-DL | CMX3-DL |
显示模式 | ||||
材料厚度数字显示 | * | * | * | * |
B 扫描横截面显示 | * | * | * | * |
结合 B 扫描和数字显示 | * | * | * | * |
涂层厚度显示 | * | * | * | * |
扫描条显示 | * | * | * | * |
A 扫描显示 | + 整流、- 整流、全波形 (RF) | + 整流，- 整流，全波形 (RF) 纵向和横向视图 | ||
测量范围 | PE: 0.63 - 1219.2mm | PE: 0.63 - 1219.2mm | PE: 0.63 - 1219.2mm | PE: 0.63 - 1219.2mm |
测量速率 | ||||
手动的 | 每秒 8 个读数 | 每秒 8 个读数 | 每秒 8 个读数 | 每秒 8 个读数 |
扫描模式 | 每秒 250 个读数 | 每秒 250 个读数 | 每秒 50 个读数 | 每秒 50 个读数 |
扫描条显示 | 每秒 10 个读数 | 每秒 10 个读数 | 每秒 10 个读数 | 每秒 10 个读数 |
测量分辨率 | 0.01 毫米（0.001 英寸） | 0.01 毫米（0.001 英寸） | 0.01mm (0.001”), 0.001mm (0.0001”) 可选 | 0.01mm (0.001”), 0.001mm (0.0001”) 可选 |
速度校准范围 | 309.88 - 18,542m/s | 309.88 - 18,542m/s | 309.88 - 18,542m/s | 309.88 - 18,542m/s |
附加功能 | ||||
高速扫描模式 | * | |||
差模 | * | |||
限位报警方式 | * | |||
B 扫描显示速度 | 每秒 15 个读数 | 每秒 15 个读数 | 每秒 15 个读数 | 每秒 10 至 200 个读数 |
缺陷模式 | 使用单元件角束传感器进行基本探伤探伤 | 使用单元件角束传感器进行基本探伤探伤 | ||
校准设置 | 64 个用户可定义的设置可在 PC 存档之间传输 | |||
盖茨 | 3 个可调的门：开始、停止、宽度和阈值 | 3 个可调的门：开始、停止、宽度和阈值 | ||
减震 | 可调阻尼（50 - 1500 欧姆） | 可调阻尼（50 - 1500 欧姆） | ||
脉冲发生器类型 | 双方波脉冲发生器 | 双方波脉冲发生器 | 双方波脉冲发生器 | 双方波脉冲发生器 |
获得 | 手动或自动增益控制 (AGC)，范围 110dB（有限） | 手动或自动增益控制 (AGC)，范围 110dB（有限） | 手动、自动增益控制 (AGC)，范围 110dB（有限），线性时间相关增益 (TDG)，斜率可调 | 手动、自动增益控制 (AGC)，范围 110dB（有限），线性时间相关增益 (TDG)，斜率可调 |
定时 | 精密温控晶体振荡器 (TCXO) 定时，具有单次 100MHz 8 位超低功耗数字化仪 | 精密温控晶体振荡器 (TCXO) 定时，具有单次 100MHz 8 位超低功耗数字化仪 | 精密温控晶体振荡器 (TCXO) 定时，具有单次 100MHz 8 位超低功耗数字化仪 | 精密温控晶体振荡器 (TCXO) 定时，具有单次 100MHz 8 位超低功耗数字化仪 |
内存和数据记录 | • 4GB 内存 | • 4GB 内存 | • 4GB 内存 | • 4GB 内存 |
