美国博曼（Bowman）K系列 XRF 高精度涂层测量系统

K 系列是客户测量各种样品的理想之选，在高度不超过9英寸（228 mm）的工件上具有优于同类产品的12英寸（304 mm）×12英寸（304mm）可测量区域。自动多准直器允许选择光斑尺寸，以适应各种特征尺寸；可变焦摄像头允许在 0.25 英寸到 3.5英寸的焦距范围内进行测量。

配置

K 系列的标准配置包括一个4位（4、8、12和24mil）多重准直器；

可选尺寸为2x2 mil 至60mil。可变焦距便于在凹陷区域进行测量。

同服电机驱动的可编程平台可通过可选的 xyz程序进行零件测量。

程序可使用模式匹配和自动对焦来确保精确测量。

与所有 Bowman XRF 系统一样，K系列配备了标准的硅漂移探测器（SDD）和长寿命微聚焦×射线管。