JSM-IT710HR 热场发射扫描电子显微镜
高级会员第2年
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/// 超越所见,探索未知 ///
JSM-IT710HR 降低荷电: 样品提供:东京农工大学 工学部生命工学科 朝倉哲郎先生
JSM-IT710HR 晶体结构分析: 样品提供:物质材料研究所(NIMS) 津﨑 兼彰先生
新功能
1. 自动观察:Simple SEM/EDS
Simple SEM 通过一次设定多个条件来实现自动测试,提高了日常工作效率。
2. Live 3D: 实时3D
在低倍率下可以观察3D活图像。
3. JSM-IT710HR 热场发射扫描电子显微镜 低真空混合二次电子检测器(LHSED)
LHSED是新型低真空检测器,能够在光发射信息和形貌像之间切换观察。
4. 肖特基场发射电子枪的稳定性提高了4倍多
> 自动电子束调整
JSM-IT7010HR从合轴到像散、对焦可以自动调整,不需繁琐的手动。
> 二次电子检测系统
左侧样品:孔雀羽毛, 右侧样品:纤维素微纤维
> 高分辨率和大束流
JSM-IT710HR的肖特基场发射电子枪和聚光镜一体化集成,在生成大束流的同时保持小束斑,能够进行高分辨观察和分析。
> 背散射电子检测系统
新型的多分割背散射检测器可以同时从4个方向采集背散射信息,生成简单的3D像并实时显示。
5. 所有分析都从Zeromag开始
使用Zeromag的光学像,视野搜寻能力提高;SEM像与光学像联动,观察、分析和自动测试简单化。
6. JSM-IT710HR 热场发射扫描电子显微镜 EDS一体化集成
JEOL除了SEM,还自主生产和销售EDS。利用这一优势,可以集中操作和管理SEM的观察画面和EDS分析结果,操作性和数据管理能力得到了提高。
7. 热场发射扫描电子显微镜相分析
JEOL的EDS增加了相分析功能,可以对每种物质(化合物/单体)进行面分布分析。
样品:精密切削刀片的截面
相分析表明,Co、Cu和Sn富区组分存在差异。
Co area: 68.15%
CuSn (CuRich) area: 16.25%
CuSn (SnRich) area: 14.54%