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ELEMENT GD Plus 赛默飞双聚焦辉光放电质谱仪
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生产厂家赛默飞双聚焦辉光放电质谱仪结合了辉光放电离子源和双聚焦高分辨率质量分析器,可以定性定量分析固体样品中包括C、N、O在内的几乎所有元素,是直接、快速分析高纯样品杂志含量和镀层材料元素组成的工具。
赛默飞双聚焦辉光放电质谱仪集中了辉光放电和高分辨质谱的优势,在以下方面有杰出表现:
1、样品测试通量高:ELEMENT GD离子源和样品夹的设计使可缩短换样和分析时间,显著提高生产率;
2、检测器线性范围宽:检测器线性范围达12个数量级,可一次扫描同时检测基体和痕量元素组成;
3、具有固定宽度的低、中、高分辨率狭缝,采用高分辨率可直接分析有质谱干扰的同位素。
1、微秒级脉冲、高流速、大功率
相较静态 GD,该独特技术具有出色的灵敏度和较低的多原子干扰,稳定性绝佳、准确度极高并能缩短分析时间,在金属和合金检测方面的准确度为 ±30%(无需校准)。
2、双聚焦质谱仪
高离子传输率结合低背景噪声, 铸就了无可比拟的信噪比和低至亚 ppb 级的检出限。高质量分辨率实现最佳选择性和准确度。
3、十二数量级的自动检测系统
>拥有 12 个数量级线性动态范围的全自动检测器可在一次扫描中同时测定基体和超痕量元素。
4、高效易用的先进软件包
所有参数均由计算机控制,可实现全自动分析、数据评估以及与自动数据传输的 LIMS 连接性。