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菲希尔X射线测厚仪XDL220
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详细信息
菲希尔X射线测厚仪XDL220
菲希尔X射线测厚仪XDL220典型的应用领域有：
测量大规模生产的电镀部件
测量超薄杜策，例如：装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
全自动测量，如测量印刷线路板
分析电镀溶液
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。根据不同的预期用途，有不同的版本。
XDL 210 型的工作台为固定式工作台，固定位置的 Z 轴系统。
XDL 220 型的工作台为固定式工作台，马达驱动的 Z 轴系统。
XDL 230 型配有可手动操控的 X/Y 工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统。
XDL 240 型则配备了马达驱动的 X/Y 工作台，当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程 Z 轴升降系统。
XDL系列仪器可选配圆形或长方形准直器，采用比例接收器，测量距离为0-80mm，使用**保护的DCM测量距离补偿法。
使用高分辨率的CCD彩色摄像头
仪器重量100kg-120kg
仪器使用时温度范围10℃-40℃，空气相对湿度为≤95%，无结露
计算机要求：带扩展卡的计算机系统
可按要求，提供额外的XDL型产品更改和XDL仪器技术咨询
