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YB580-X 大功率绝缘栅双极晶体管测试仪
- 型号
- YB580-X
半导体分立器件测试系统
大功率半导体器件测试系统
IGBT测试系统
场效应管测试仪
晶体管测试仪
光电耦合器测试仪
继电器测试仪
高速大功率半导体器件测试系统
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高速大功率半导体器件测试系统
西安谊邦电子科技有限公司为国家*产业园、西安市政府重点支持的*。主要从事半导体分立器件测试系统的研发、生产与销售等业务。公司主要技术人员均来自航天航空及半导体技术研究所，拥有丰富的专业技术知识和多年的测试产品研发经验。*的设计方案，可靠的生产控制工艺及不断创新的技术研发，为公司产品的持续发展创新提供了有利保障。
公司引进美国的*半导体测试技术，在此基础上研制生产了YB6000系列半导体分立器件测试系统，该测试系统拥有功率大、速度快、精度高、测试种类全等技术特点，各项技术指标均达到*水平。其雄厚的技术实力，多年的开发产品经验和*严谨的设计方案使谊邦电子YB系列测试系统性能更加超群，品质更为可靠稳定。谊邦电子研发技术涉及集成电路测试、半导体分立器件测试和各种客户产品测试等领域。产品主要应用于*、汽车、飞机、船舶制造、能源等行业领域。
西安谊邦凭借较强的技术实力和完善的科学管理，能够给用户提供完善的售前售后技术支持。科技创新、服务无限，是我们工作的宗旨。
详细信息
我公司科研人员经过连续技术攻关, 在原有YB6500半导体分立器件自动测试系统基础上, 自行研发出*台igbt测试仪，圆满解决了功率IGBT等新型半导体器件的全参数测试难题,*了国内在半导体自动测试领域的空白，该项产品综合技术指标达到水平。
目前我公司提供的该项新产品采用模块式功放结构, 主极电流400A/500A/1000A/1250A可选, 2500A/5000A选项可以根据用户需要定制。
该产品可测IGBT参数包括了ICES, BVCES, IGESF, IGESR, VGETH, VGEON, VCESAT, ICON,VF, GFS,rCE等全直流参数, 所有小电流指标保证1%重复测试精度, 大电流指标保证2%以内重复测试精度, 达到目前国外进口同类产品水平。
绝缘栅晶体管、IGBT测试参数及精度
| 电参数名称 | 电压范围 | 电流范围 | 分辨率 | 精度 |
| ICES IGESF IGESR | 0.10V- 2000V 0.10V - 20V（80V）（2） | 100nA（100pA）（1） - 50mA 100nA（100pA）（1）- 3A | 1nA（50pA）（1） | 1%+10nA+20pA/V （1%+200pA+2pA/V）（1） |
| BVCES | 0.1V-1000V- 1400V - 1600V | 100μA - 200mA -100mA -50mA | 5mV | 1%＋100mV |
| VGETH | 0.10V- 20.0V（80V）（2） | 100nA- 3A | 5mV | 1%+10mV |
| VCESAT ICON VGEON VF GFS（混合参数） | VCE: 0.10V- 5.00V - 9.99V VGE、VF: 0.10V - 9.99V | IC: 10μA-1250A - 1250A IGE、IF: 100nA - 10A | 5mV | V: 1%+10mV IC,IF: 1%+100nA IGE: 1%+5nA |
（1） 需要YB550选件
（2） 需要栅极80V选件
该产品可针对目前封装的多单元IGBT特征, 根据用户需要提供4/ 8/ 20单元扫描测试适配器, 从而实现多单元封装器件的一次性全参数测试.与进口测试系统相比, 该产品可同时对各种功率的其它10-18多类半导体分立器件进行全参数测试, 具有更高的使用效率。与国外同类产品相比, 该产品具有更高的性能价格比和国外厂家不能做到的优质售后服务。
说明：1.上述所列类别包括各大、中、小功率半导体分立器件及其组成的阵列、组合、表贴器件
2.测试方法符合GB/T 15651.2-2003标准、
GB/T 15651.3-2003标准，
GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法之标准；
3.提供上述各类器件测试所用的不同封装形式的测试夹具和测试适配器。
4.可以定做各种阵列、组合封装、表贴器件的测试夹具。
5.帮助用户开发各种器件的测试程序。
大功率半导体测试系统全国代理商招募中，
；杨
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：www.ybdzkj.cn
