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WCT 温度变化试验箱

型号
WCT
上海昱新仪器有限公司

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本公司成立于1999年,专业生产销售盐雾箱,恒温恒湿机,冷热冲击机,振动试验机,机械冲击机,跌落试验机环境试验仪器的公司,经验丰富,并得到许多国内外厂商的信赖与支持。专业生产销售经营各类可靠性环境试验设备,采用*的加工设备和*的工艺、严格的管理体系、雄厚的技术实力和良好的售后服务满足客户需求。 公司拥有经过严格培训、经验丰富、技术*的工程技术人员,负责设备的售后服务工作。我们并可为客户设计制作非标产品,以利选择。产品按GB、IEC、GJB、DIN等标准相对应的技术参数生产各类环境试验设备。

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详细信息

温度变化试验箱

温度变化试验箱广泛应用于航空、航天、电子、仪器仪表、电工产品、材料、零部件、设备等做加速老化试验,以便对试验中拟定环境条件下的性能、行为作出分析及评价。

规格型号          测试区尺寸(W*H*D)      外型尺寸(W*H*D)
WCT-1P/1S          450*600*450mm          1080*1450*800mm
WCT-2P/2S          570*750*600mm          1130*1600*950mm
WCT-3P/3S          800*800*800mm          1430*1650*1150mm
WCT-4P/4S         1000*1000*1000mm        1630*1850*1350mm

工作温度范围 100℃(+150℃) ~ -70℃(0℃、-20℃、-40℃、-60℃、-70℃)

另可依客户要求之尺寸制作,满足客户的要求

影响高低温试验箱的主要参数是:
1、温度变化范围的高温和低温温度值;
2、试验样品在高温和低温下的保持时间;
3、低温到高温或高温到低温之间温度变化的速率;
4、条件试验循环数;
5、试验样品吸收或放出之总热量

可符合以下试验标准:

有特殊要求垂询!

GB2423.22-87   电工电子产品基本环境试验标准(温度变化试验方法)

中华人民共和国国家标准

                                                       UDC 621.3:620.1
电工电子产品基本环境试验规程
试验N:温度变化试验方法                                 GB 2423.22-87
Basic environmental testing procedures                  代替GB 2423.22-81
 for electric and electronic products
   Test N:change of tempera ture

引言

  本试验方法适用于确定一次或连续多次温度变化对试验样品的影响
  本试验方法不能用来考核仅由于高温或低温所引起的影响,对这种影响,应使用高温或低温试验方法。
  影响温度变化试验的主要参数是:
    温度变化范围的高温和低温温度值;
    试验样品在高温和低温下的保持时间;
    低温到高温或高温到低温之间温度变化的速率;
    条件试验循环数;
    试验样品吸收或放出之总热量。
  有关标准选择上述试验参数的指导,风GB 2424.13-81《电工电子 产品基本环境试验规程 温度变化试验导则》。
  本标准等效彩标准 IEC 68-2-14(1984)《基本环境试验规程 第二部分:试验N:温度变化》及*号修订本(1986)。

1 试验Na:规定转换时间的快速温度变化试验
1.1 试验目的
   确定元件、设备和其它产品经受环境温度迅速变化的能力。
1.2 试验简要说明
   把试验样品交替暴露于低温和高温空气(或合适的惰性气体)中,使其经受温度快速变化的影响。
1.3试验设备的说明
1.3.1试验箱
1.3.1.1 应有一台低温箱,一台高温箱,两箱放置的位置应能使试验样品于规定时间内从一个箱转移到另一个箱,转换方法可以是手动或自动的。
1.3.1.2 试验箱中放置样品的任一区域内应能保持试验所规定的空气温度。
1.3.1.3 箱内空气的湿度不应超过20g/m3
1.3.1.4 高温箱箱壁温度不应超过试验规定温度以K计)的3%,低温箱箱壁温度不应超过试验规定温度(以K计)的8%,这一要求适用于整个试验箱内壁,试验样品与不符合上述要求的任何加热和冷却之间不应存在直接辐射。
1.3.1.5 试验箱的容积和空气速度应满足在放入试验样品后,箱内空气温度恢复到规定容差范围的时间,不超过试验暴露时间的10%。
1.3.1.6 箱内空气应流通,试验样品附近测得之空气速度应不小于2m/s。
1.3.2试验样品的安装架和支撑件
  除非有关标准另有规定,安装架或支撑件的热传导应是低的,使试验样品实际上是被隔热的。当几个试验样品同时试验时,应使各试验样品之间及试验样品和箱壁之间的空气能自由流通。

1.4 严酷程度
1.4.1 试验严酷程度由低温与高温温度值、转换时间和循环数确定。
1.4.2 有关标准中应规定低温TA和高温TB,该温度均应从GB 2423.1-81《电工电子产品基本环境试验规程 试验A:低温试验方法》和GB 2423.2-81《电工电子产品基本环境试验规程 试验B:高温试验方法》规定的试验温度中选取。
1.4.3 除非有关标准另有规定,循环数为5。
1.4.4 除非有关标准另有规定,转换时间t2应为2~3min。
1.5 初始检测
   按有关标准要求对试验样品进行外观检查及电气和机械性能的检测。
1.6 条件试验
1.6.1 试验样品应在不包装、不通电、准备使用状态或标准中规定的其它状态进行试验,条件试验开始时,试验样品的温度应是试验室温度。
1.6.2 在低温和高温下的试验时间t2,取决于试验样品的热容量,试验时间应为3、2、1h,30min 或10min,由有关标准规定,或有关标准未规定试验时间时,则为3h。
1.6.3 低温箱内温度预先调节到要求的低温TA,然后把试验样品放入箱内。
1.6.4 低温箱的温度应在TA下保持规定时差间t1;t1值包括放入试验样品后箱内温度恢复到TA所需的时间(见1.3.1.5),该时间不应大于0.1t1。
    注:试验时间 t1是从试验样品放入试验箱的瞬间算起。
1.6.5 转换时间t2
   试验样品从低温箱中取出并转移到高温箱中,转换时间t2包括从一个箱取出和放入另一个箱的时间,以及在试验室环境温度下停顿的时间。
   转换时间分为下列三种,由有关标准根据要求自定:
   2~3min; 20~30s;<10s
   注:
(1)、转换时间t2取决于试验样品的热时间常数及其在使用中所经受的zui急剧温度变化的条件。
(2)、对一些严酷条件可规定t2为20~30s。
(3)、对小试验样品及仅对某些严酷条件可规定t2小于10s。
(4)、较短的转换时间可能需要应用自动转换试验设备。

 

 

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