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MN666-GM-X03 光学膜厚控制仪报价

型号
MN666-GM-X03
参数
产地类别:国产 应用领域:化工
北京海富达科技有限公司

中级会员15年 

经销商

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坚持以持续创新为客户不断创造价值为经营理念,公司在产品研发方面投入比例逐年递增,目前自主研发并投入市场的产品已达十余种,长期以来,公司一直按照国际化标准,搭建实验室平台,构建高品质、高标准、持续创新的发展体系,坚持稳步发展的管理理念,不断刷新自己在业内的记录。








详细信息

光学膜厚控制仪报价

光学膜厚控制仪报价

型号:MN666-GM-X03

库号:M12664




真空镀膜,膜厚控制仪
本仪器是相位锁定放大器,用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道,参考信号通道和先进的四阶低Q滤波技术组成,有很强的谐波抑制能力和动态储备,能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位。
采用进品高精密元件制作和DAAS是数字频谱分析系统测试,确保仪器具有可靠的质量和优越的性能。
高稳定性。操作简便,实用性强
技术参数:

GM-X03
主信号通道:电压单端输入
满程灵敏度:0.5mV~500mV
频率范围:1KHz,±5%
锁相噪声:≦4nV
线性误差:≦1%
零点漂移:0.2%(小时)
参考信号通道:电压单端输入
输入幅度:20mV~700mV
频率范围:1KHz,±5%
相位锁定范围:≧320°
电源电压:220VAC/50Hz
外形尺寸:宽482x高89x深322(mm)/标准2U面板
净重:7.5Kg

真空镀膜,膜厚控制仪
本仪器是相位锁定放大器,用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道,参考信号通道和先进的四阶低Q滤波技术组成,有很强的谐波抑制能力和动态储备,能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位。
采用进品高精密元件制作和DAAS是数字频谱分析系统测试,确保仪器具有可靠的质量和优越的性能。
高稳定性。操作简便,实用性强
技术参数:

GM-X03
主信号通道:电压单端输入
满程灵敏度:0.5mV~500mV
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锁相噪声:≦4nV
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参考信号通道:电压单端输入
输入幅度:20mV~700mV
频率范围:1KHz,±5%
相位锁定范围:≧320°
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外形尺寸:宽482x高89x深322(mm)/标准2U面板
净重:7.5Kg








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产品参数

产地类别 国产
应用领域 化工
企业未开通此功能
详询客服 : 0571-87858618
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